特許
J-GLOBAL ID：200903004059696433
選択可能な多数の等化器を用いて光データストリームにおける干渉を低減するためのシステム及び方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
恩田 博宣
, 恩田 誠
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-502284
公開番号（公開出願番号）：特表2006-506030
出願日： 2003年11月05日
公開日（公表日）： 2006年02月16日
要約：
データストリームにおける干渉を低減する方法は、第1等化器を用いてデータストリームをフィルタ処理して第1フィルタ処理済データストリームを出力することを含む。また、データストリームは、第2等化器を用いてフィルタ処理されて第2フィルタ処理済データが生成される。次に、第1フィルタ処理済データストリーム及び第2フィルタ処理済データストリームに基づき1つ又は複数の誤り率が決定される。少なくとも部分的にこれらの誤り率に基づき、フィルタ処理済データストリームが第1フィルタ処理済データストリーム及び第2フィルタ処理済データストリームの中から選択される。閾値を決定し、次に、選択されたフィルタ処理済データストリームと比較して、データビットを生成する。
請求項（抜粋）：
光データストリームにおける現ビットの値を決定するための方法であって、
前記光データストリームから得られた電気信号を受信すること、
少なくとも部分的に第1信号パラメータに基づいて第1等化器を構成し、少なくとも部分的に第2信号パラメータに基づいて第2等化器を構成すること、
前記電気信号を第1等化器と第2等化器に個別に供給すること、
第1等化器を用いて前記電気信号をフィルタ処理して第1フィルタ処理済信号を生成し、第2等化器を用いて前記電気信号をフィルタ処理して第2フィルタ処理済信号を生成すること、
少なくとも部分的に第1フィルタ処理済信号に基づき第1誤り率を測定し、少なくとも部分的に第2フィルタ処理済信号に基づき第2誤り率を測定すること、
少なくとも部分的に第1誤り率及び第2誤り率に基づき、第1フィルタ処理済信号及び第2フィルタ処理済信号の中からフィルタ処理済信号を選択すること、
前記選択されたフィルタ処理済信号と閾値とを比較して、前記現ビットの値を生成すること
を備える方法。
IPC (3件)：
H04B 10/02
, H04B 10/18
, H04B 3/06
5K046AA07
, 5K046BB05
, 5K046EE15
, 5K046EE47
, 5K102AA01
, 5K102KA02
, 5K102KA05
, 5K102KA39
