特許

J-GLOBAL ID：200903004375974224

応力ひずみ解析システム及びそれに用いる応力ひずみ解析方法並びにそのプログラム

発明者： 石橋 正博
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： ▲柳▼川 信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-069412
公開番号（公開出願番号）：特開2003-270060
出願日： 2002年03月14日
公開日（公表日）： 2003年09月25日
要約：

【要約】【課題】 応力ひずみ解析のためのモデル化、有限要素法解析、余寿命や応力-ひずみ分布等の結果表示を簡単な操作でしかも短時間で行うための応力ひずみ解析システムを提供する。【解決手段】 解析モデル生成手段11及び材料定数生成手段12は処理装置1で選択された基本モデル中の構成部品の寸法、材料データの選択を促し、解析モデル13を生成する。有限要素法解析手段14はこの解析モデル13と汎用有限要素法プログラムとを用いて応力-ひずみ関係を計算し、寿命予測手段15及びグラフ作成手段16に伝達する。寿命予測手段15はこの伝達された応力-ひずみ関係から、繰返し負荷に対する破断寿命を計算する。グラフ作成手段16は応力-ひずみ関係及び余寿命を、処理装置1で選択されたグラフ作成条件によって定まる形式でグラフ化し、表示装置6の画面に表示する。

請求項（抜粋）：

有限要素法を用いて材料のひずみを解析する応力ひずみ解析システムであって、負荷によって前記材料に生じる全ひずみを弾性ひずみ、塑性ひずみ、粘性ひずみの和で表した構成式を用い、参照直線を入力することなく、負荷方向や負荷速度、温度による応力とひずみとの曲線関係を表現することを特徴とする応力ひずみ解析システム。

IPC (4件)：

G01L 1/00 ,  G01N 3/00 ,  G01N 3/32 ,  G06F 17/50 612

FI (4件)：

G01L 1/00 M ,  G01N 3/00 Z ,  G01N 3/32 E ,  G06F 17/50 612 H

Fターム (14件)：

2G061AA02 ,  2G061AB05 ,  2G061AC03 ,  2G061BA15 ,  2G061CA01 ,  2G061CA04 ,  2G061CA05 ,  2G061CB16 ,  2G061CB18 ,  2G061DA11 ,  2G061EA03 ,  2G061EA04 ,  2G061EC04 ,  5B046JA08

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 有限要素法を用いた塑性解析方法、システムおよび有限要素法を用いた塑性解析プログラムを記録した記録媒体
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-127262   出願人：日本電気株式会社
• 電子機器の信頼性評価方法、その信頼性評価装置およびその信頼性評価プログラムを記録した媒体
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-214468   出願人：シャープ株式会社

引用文献：

審査官引用 (1件)

• 「はんだ接合部の数値解析における弾・塑性・クリープひずみ分離法」