特許
J-GLOBAL ID：200903004942435860

接続状態検査装置、接続状態検査方法および接続システム

発明者：
松井 美和

松井 美和 について


出願人/特許権者：
シャープ株式会社

シャープ株式会社 について


代理人 (7件)： 深見 久郎 ,  森田 俊雄 ,  仲村 義平 ,  堀井 豊 ,  野田 久登 ,  酒井 將行 ,  荒川 伸夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-138079
公開番号（公開出願番号）：特開2008-292303
出願日： 2007年05月24日
公開日（公表日）： 2008年12月04日
要約：
【課題】接続状態を短時間で正確に検査することが可能な接続状態検査装置、接続状態検査方法および接続システムを提供する。【解決手段】可視光が透過可能な透光性部品の第1主表面上に設けられた端子と不透明基板に設けられた端子とが異方性導電材料を介して接続されている状態を検査する接続状態検査装置101であって、透光性部品に設けられた端子と基板に設けられた端子との接続部分を透光性部品の第2主表面側から撮影する撮影部4と、撮影した接続部分の画像に基づいて、透光性部品に設けられた端子と基板に設けられた端子との接続状態を判定する接続状態判定部1とを備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
可視光が透過可能な透光性部品の第1主表面上に設けられた端子と不透明基板に設けられた端子とが異方性導電材料を介して接続されている状態を検査する接続状態検査装置であって、 前記透光性部品に設けられた端子と前記基板に設けられた端子との接続部分を前記透光性部品の第2主表面側から撮影する撮影部と、 前記撮影した接続部分の画像に基づいて、前記透光性部品に設けられた端子と前記基板に設けられた端子との接続状態を判定する接続状態判定部とを備える接続状態検査装置。
IPC (7件)：
G01N 21/956 ,  G01B 11/30 ,  G01B 11/00 ,  G01M 11/00 ,  G02F 1/13 ,  G02F 1/134 ,  H05K 13/08
FI (8件)：
G01N21/956 Z ,  G01B11/30 Z ,  G01B11/00 H ,  G01N21/956 B ,  G01M11/00 T ,  G02F1/13 101 ,  G02F1/1345 ,  H05K13/08 D
Fターム (45件)：
2F065AA02 ,  2F065AA17 ,  2F065AA20 ,  2F065AA49 ,  2F065AA58 ,  2F065AA61 ,  2F065BB02 ,  2F065CC01 ,  2F065CC02 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065MM24 ,  2F065PP12 ,  2F065PP25 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ24 ,  2F065SS13 ,  2G051AA65 ,  2G051AA90 ,  2G051AB01 ,  2G051AB13 ,  2G051AB14 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051DA05 ,  2G051EB01 ,  2G051EC01 ,  2G051ED21 ,  2G086EE10 ,  2H088FA11 ,  2H088FA30 ,  2H088HA02 ,  2H088HA06 ,  2H088MA20 ,  2H092GA48 ,  2H092GA51 ,  2H092HA25 ,  2H092MA32 ,  2H092MA35 ,  2H092MA55 ,  2H092NA30 ,  2H092PA06
引用特許：
出願人引用 (4件)
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