プリント基板検査装置

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：西村教光 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-338177
公開番号（公開出願番号）：特開2001-153646
出願日： 1999年11月29日
公開日（公表日）： 2001年06月08日
要約：

【要約】【課題】プリント基板上に形成される半田に関して高さムラや欠損などの半田不良を統計処理してプリント基板の品質を向上できること。【解決手段】センサヘッド20は、X軸移動手段及びY軸移動手段によってプリント基板上で相対的に縦横方向に移動走査しながらプリント基板上の半田の突起の高さを変位量として検出出力する。統計処理手段32は、センサヘッド20の位置、及び変位量の出力から各領域別の半田の高さの平均を演算する。この高さの平均値が領域別に予め設定された設定範囲を超える場合、半田の形成高さが不良と判断して前段の半田印刷機に警報データを出力する。これにより、装置を連続稼働させつつ半田の高さが一定な良品質のプリント基板を製造できるようになる。

請求項（抜粋）：

連続的に搬入される各プリント基板の表面状態を検査するプリント基板検査装置において、前記プリント基板に対向配置され、該プリント基板上の突起の変位量を検出するセンサヘッドと、連続的に検査する複数枚のプリント基板について前記センサヘッドから出力される同一領域に関する突起の変位量の変動を統計処理する統計処理手段と、を備えたことを特徴とするプリント基板検査装置。

IPC (5件)：

G01B 21/02 , G01B 11/00 , G01B 21/00 , G01N 21/956 , H05K 3/00

FI (5件)：

G01B 21/02 A , G01B 11/00 B , G01B 21/00 E , G01N 21/956 B , H05K 3/00 V

Fターム (57件)：

2F065AA04 , 2F065AA06 , 2F065AA24 , 2F065AA58 , 2F065AA59 , 2F065BB13 , 2F065BB24 , 2F065BB25 , 2F065CC26 , 2F065DD00 , 2F065FF01 , 2F065FF43 , 2F065GG04 , 2F065GG12 , 2F065HH12 , 2F065JJ02 , 2F065JJ16 , 2F065LL04 , 2F065MM07 , 2F065PP04 , 2F065PP22 , 2F065QQ23 , 2F065QQ42 , 2F065TT01 , 2F065TT02 , 2F065UU05 , 2F065UU06 , 2F069AA04 , 2F069AA42 , 2F069AA96 , 2F069BB14 , 2F069BB38 , 2F069BB40 , 2F069CC06 , 2F069DD30 , 2F069GG04 , 2F069GG07 , 2F069GG62 , 2F069JJ08 , 2F069JJ25 , 2F069JJ27 , 2F069MM04 , 2F069MM13 , 2F069MM32 , 2F069NN26 , 2F069PP07 , 2F069QQ02 , 2F069QQ03 , 2G051AA61 , 2G051AA65 , 2G051AB02 , 2G051BA10 , 2G051CA03 , 2G051CB01 , 2G051DA07 , 2G051EB01 , 2G051EC03

引用特許：

審査官引用 (3件)

特開平3-257354
クリーム半田印刷外観検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-144072 出願人：松下電器産業株式会社
バンプ付基板の検査装置、検査方法及びバンプ付基板の製造方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-105554 出願人：日本特殊陶業株式会社, タカノ株式会社

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