特許
J-GLOBAL ID：200903005125434042
ブリルアン散乱測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (2件)：
田村 爾
, 杉村 純子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-085474
公開番号（公開出願番号）：特開2009-236813
出願日： 2008年03月28日
公開日（公表日）： 2009年10月15日
要約：
【課題】 被測定用光ファイバのみを用いてブリルアン散乱を測定可能なブリルアン散乱測定装置を提供すること。【解決手段】 プローブ光a0とポンプ光b0とを生成する測定用光生成手段と、該測定用光生成手段で生成されたプローブ光とポンプ光とを、偏波面が異なる状態で合成する偏波合成手段40と、該偏波合成手段からの合成光が一端に入射される被測定用光ファイバ41と、該被測定用光ファイバの他端側に配置され、合成光の偏波面を回転すると共に、合成光中の少なくともプローブ光を反射させて該被測定用光ファイバの他端に再入射させる回転反射手段42と、該被測定用光ファイバの一端側に配置され、該回転反射手段により反射したプローブ光a3を検出するプローブ光検出手段とを有することを特徴とするブリルアン散乱測定装置である。【選択図】図5
請求項（抜粋）：
プローブ光とポンプ光とを生成する測定用光生成手段と、
該測定用光生成手段で生成されたプローブ光とポンプ光とを、偏波面が異なる状態で合成する偏波合成手段と、
該偏波合成手段からの合成光が一端に入射される被測定用光ファイバと、
該被測定用光ファイバの他端側に配置され、合成光の偏波面を回転すると共に、合成光中の少なくともプローブ光を反射させて該被測定用光ファイバの他端に再入射させる回転反射手段と、
該被測定用光ファイバの一端側に配置され、該回転反射手段により反射したプローブ光を検出するプローブ光検出手段とを有することを特徴とするブリルアン散乱測定装置。
IPC (5件)：
G01D 5/353
, G01K 11/12
, G01B 11/16
, G01N 21/00
, G01M 11/00
G01D5/26 D
, G01K11/12 F
, G01B11/16 Z
, G01N21/00 A
, G01M11/00 R
2F056VF02
, 2F056VF03
, 2F056VF10
, 2F056VF11
, 2F056VF16
, 2F065AA65
, 2F065CC14
, 2F065FF41
, 2F065GG08
, 2F065GG23
, 2F065LL00
, 2F065LL02
, 2F065LL22
, 2F065LL55
, 2F065NN08
, 2F103CA04
, 2F103CA06
, 2F103EC08
, 2F103EC09
, 2F103EC10
, 2G059AA05
, 2G059BB20
, 2G059EE12
, 2G059GG01
, 2G059JJ17
, 2G086DD04
, 2G086DD05
出願人引用 (6件)
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特許第3667132号公報
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特許第3607930号公報
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ブリルアン散乱測定装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2007-193323
出願人：住友大阪セメント株式会社, 鹿島建設株式会社
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審査官引用 (1件)
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