半導体X線検出器内の過剰ピクセル・ラグを有するピクセルを特定し補正する方法

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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：松本研一 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-319285
公開番号（公開出願番号）：特開2003-299641
出願日： 2002年11月01日
公開日（公表日）： 2003年10月21日
要約：

【要約】【課題】過剰ピクセル・ラグに起因するアーチファクトを受けやすいピクセルを特定しそのアーチファクトを補正するための技法及び装置を提供する。【解決手段】ディジタルX線検出器内で画像アーチファクトを生じさせるような残留電荷量を受けているピクセルを特定する方法を提供する。ラグ・アーチファクトしきい値を取得しており、このラグ・アーチファクトしきい値によって、ディジタルX線検出器内のピクセルが保持した場合に画像アーチファクトを生じさせるような残留電荷量を特定する。ピクセルが受けるピクセル・ラグを決定しており、このピクセル・ラグは各ピクセルごとに異なることがある。ラグ・アーチファクトしきい値を超えるピクセル・ラグを有するピクセルを特定し補正する。

請求項（抜粋）：

ディジタルX線検出器(22)において、該ディジタルX線検出器(22)の出力から導出された画像内に画像アーチファクトを発生させるのに十分な量の残留電荷を受けているピクセルを特定するための方法であって、ディジタルX線検出器(22)内のピクセルに保持させておいた場合に画像アーチファクトを生じさせるような残留電荷量を特定しているラグ・アーチファクトしきい値(110)を取得するステップと、ディジタルX線検出器(22)内のピクセルが受けるピクセル・ラグを決定するステップと、ディジタルX線検出器(22)内で、前記ラグ・アーチファクトしきい値(110)を超えるピクセル・ラグを有するピクセルを特定するステップと、を含む方法。

IPC (9件)：

A61B 6/00 300 , G01T 1/00 , G01T 1/17 , H01L 27/14 , H01L 27/146 , H04N 5/32 , H04N 5/325 , H04N 5/335 , G01T 1/20

FI (9件)：

A61B 6/00 300 S , G01T 1/00 B , G01T 1/17 E , H04N 5/32 , H04N 5/335 P , G01T 1/20 E , A61B 6/00 350 S , H01L 27/14 C , H01L 27/14 K

Fターム (32件)：

2G088EE01 , 2G088FF02 , 2G088GG19 , 2G088GG20 , 2G088GG21 , 2G088JJ05 , 2G088KK24 , 2G088KK32 , 2G088KK35 , 2G088LL11 , 2G088LL12 , 2G088LL17 , 4C093AA02 , 4C093AA16 , 4C093CA13 , 4C093EA07 , 4C093EB12 , 4C093EB17 , 4C093FF03 , 4C093FF34 , 4M118AA05 , 4M118AB01 , 4M118BA05 , 4M118CA02 , 4M118CB06 , 4M118CB11 , 4M118FB03 , 4M118FB13 , 4M118FB22 , 5C024AX12 , 5C024CX26 , 5C024GY31

引用特許：

審査官引用 (7件)

X線画像装置及び記録媒体
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-045890 出願人：松下電器産業株式会社
X線画像診断装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-024318 出願人：株式会社日立メディコ
記録部材における放射線画像の欠陥を補正する方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-222947 出願人：アグフア-ゲヴエルト・ナームローゼ・フエンノートシヤツプ

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