特許

J-GLOBAL ID：200903005432656125

イオントラップ型質量分析装置およびイオントラップ質量分析方法

発明者： ▲吉▼成 清美 ,  小瀬 洋一 ,  中島 文彦 ,  加藤 義昭
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-039747
公開番号（公開出願番号）：特開2000-243347
出願日： 1999年02月18日
公開日（公表日）： 2000年09月08日
要約：

【要約】【課題】質量分析すべき試料イオンの濃度を高めて、高分解能に、かつ、より高いS/N比で、質量分析を行うことができるイオントラップ型質量分析装置およびイオントラップ質量分析法を提供する。【解決手段】イオントラップ型質量分析部5で質量分析を行う前に、偏向・質量選択部10の偏向四重極電極系11で、不要なイオンや中性分子を除去する。偏向四重極電極系11は4本の棒電極15を有し、各棒電極15は各電極間距離が一定であるように同じ方向に同程度湾曲している。

請求項（抜粋）：

イオンビームを四重極電界によって捕捉し、捕捉されたイオンを質量分離するイオントラップ型質量分析部とを有するイオントラップ型質量分析装置において、イオン化された試料を含むイオンビームを偏向し、かつ、イオンの質量を選択する偏向・質量分離選択部を、前記イオントラップ型質量分析部の前段に備え、前記偏向・質量分離選択部で選択されたイオンを含むイオンビームが前記イオントラップ型質量分析部に供給されることを特徴とするイオントラップ型質量分析装置。

IPC (4件)：

H01J 49/42 ,  G01N 27/62 ,  G01N 30/72 ,  H01J 49/06

FI (7件)：

H01J 49/42 ,  G01N 27/62 L ,  G01N 27/62 C ,  G01N 27/62 X ,  G01N 30/72 A ,  G01N 30/72 C ,  H01J 49/06

Fターム (6件)：

5C038FF07 ,  5C038FF10 ,  5C038JJ02 ,  5C038JJ06 ,  5C038JJ09 ,  5C038JJ11

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 誘導結合プラズマ質量分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-266135   出願人：横河アナリティカルシステムズ株式会社
• ノッチ・フィルタ及び目標イオンの除去方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-315845   出願人：ヒューレット・パッカード・カンパニー
• 特開昭62-264546