特許
J-GLOBAL ID:200903005639393167

レーザー脱離イオン化質量分析用サンプルプレート

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人アイテック国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-136311
公開番号(公開出願番号):特開2007-309668
出願日: 2006年05月16日
公開日(公表日): 2007年11月29日
要約:
【課題】LDIやMALDIなどにおけるイオン化に適し、繰り返し使用可能なレーザー脱離イオン化質量分析用サンプルプレートを提供する。【解決手段】レーザー脱離イオン化質量分析用サンプルプレートを、分析対象の保持面として面粗さ(Ra)が2.0μm以下である、熱分解炭素層を備えるようにする。【選択図】なし
請求項(抜粋):
レーザー脱離イオン化質量分析用サンプルプレートであって、 分析対象の保持面として面粗さ(Ra)が2.0μm以下である、熱分解炭素層を備える、サンプルプレート。
IPC (1件):
G01N 27/62
FI (2件):
G01N27/62 V ,  G01N27/62 F
Fターム (16件):
2G041CA01 ,  2G041DA03 ,  2G041DA04 ,  2G041EA04 ,  2G041FA10 ,  2G041FA12 ,  2G041GA02 ,  2G041GA03 ,  2G041GA05 ,  2G041GA06 ,  2G041GA08 ,  2G041GA09 ,  2G041GA16 ,  2G041HA01 ,  2G041JA02 ,  2G041JA06
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (10件)
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