特許
J-GLOBAL ID:200903005639393167
レーザー脱離イオン化質量分析用サンプルプレート
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人アイテック国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-136311
公開番号(公開出願番号):特開2007-309668
出願日: 2006年05月16日
公開日(公表日): 2007年11月29日
要約:
【課題】LDIやMALDIなどにおけるイオン化に適し、繰り返し使用可能なレーザー脱離イオン化質量分析用サンプルプレートを提供する。【解決手段】レーザー脱離イオン化質量分析用サンプルプレートを、分析対象の保持面として面粗さ(Ra)が2.0μm以下である、熱分解炭素層を備えるようにする。【選択図】なし
請求項(抜粋):
レーザー脱離イオン化質量分析用サンプルプレートであって、
分析対象の保持面として面粗さ(Ra)が2.0μm以下である、熱分解炭素層を備える、サンプルプレート。
IPC (1件):
FI (2件):
G01N27/62 V
, G01N27/62 F
Fターム (16件):
2G041CA01
, 2G041DA03
, 2G041DA04
, 2G041EA04
, 2G041FA10
, 2G041FA12
, 2G041GA02
, 2G041GA03
, 2G041GA05
, 2G041GA06
, 2G041GA08
, 2G041GA09
, 2G041GA16
, 2G041HA01
, 2G041JA02
, 2G041JA06
引用特許:
出願人引用 (2件)
審査官引用 (10件)
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ターゲット支持体
公報種別:公開公報
出願番号:特願2005-277671
出願人:アジレント・テクノロジーズ・インク
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特表平6-508472
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特開昭62-043562
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