特許
J-GLOBAL ID：200903005928671086
電気回路テスト用プローブ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小橋 信淳 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-075550
公開番号（公開出願番号）：特開平6-289057
出願日： 1993年04月01日
公開日（公表日）： 1994年10月18日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 プローブを微小ピッチで配列させ、検査点への接触圧を均等し、検査精度を向上させ、しかも耐久性を向上させる。【構成】 そぞれのプローブ30の湾曲部32の突出方向を、プローブ30の配設方向に対して直交する方向に揃え、各プローブ30の湾曲部32の変形方向を同一方向としたので、プローブ30相互間に接触が生じないことから、隣合うプローブ30相互間のピッチを狭くすることができる。熱によるそれぞれのプローブ30の頭部31の突出量は、湾曲部32の復元すべき記憶状態が統一されていることから、被検査回路基板の検査面の検査点への頭部31の弾接が均一に行われる。プローブ30の頭部31が各検査点に対して均等に弾接するため、特に微小電流で動作するIC等の電子部品の検査においても接触抵抗等を均一に保つことができるので、検査精度の信頼性を向上させることができる。
請求項（抜粋）：
ガイドホルダー及びピン保持ブロックに保持された単一線状のプローブを被検査回路基板の検査点に弾接させることにより、電気回路テストを行う電気回路テスト用プローブであって、前記プローブの中間部位にはベンディング加工によって形成された湾曲部が設けられてなり、前記プローブの検査点への弾接は前記湾曲部の変形によって行われることを特徴とする電気回路テスト用プローブ。
IPC (2件)：
引用特許：
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