特許
J-GLOBAL ID：200903005948221680

焼き付き現象補正方法、自発光装置、焼き付き現象補正装置及びプログラム

発明者：
小澤 淳史

小澤 淳史 について

, 
多田 満

多田 満 について


出願人/特許権者：
ソニー株式会社

ソニー株式会社 について


代理人 (1件)： 頭師 教文
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-014832
公開番号（公開出願番号）：特開2006-201629
出願日： 2005年01月21日
公開日（公表日）： 2006年08月03日
要約：
【課題】劣化速度が経時変化により変動するため、使用時間が長くなると焼き付き現象の正確な補正が難しくなる。【解決手段】複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置として、(a)経時変化を反映した劣化特性に基づいて、各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、(b)各画素について算出された劣化量差を累積加算し、各画素についての累積劣化量差を算出する処理と、(c)累積劣化量差に基づいて、入力信号の補正に使用する補正量を逐次決定する処理と、(d)自発光素子の駆動条件に関する入力信号を、逐次決定された補正量に基づいて補正する処理とを有するものを提案する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法であって、 経時変化を反映した劣化特性に基づいて、各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、 各画素について算出された劣化量差を累積加算し、各画素についての累積劣化量差を算出する処理と、 前記累積劣化量差に基づいて、入力信号の補正に使用する前記補正量を逐次決定する処理と、 自発光素子の駆動条件に関する入力信号を、逐次決定された補正量に基づいて補正する処理と を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
IPC (4件)：
G09G 3/20 ,  G09G 3/30 ,  H04N 5/66 ,  H01L 51/50
FI (7件)：
G09G3/20 670J ,  G09G3/20 612U ,  G09G3/20 641D ,  G09G3/20 641P ,  G09G3/30 H ,  H04N5/66 Z ,  H05B33/14 A
Fターム (29件)：
3K007AB11 ,  3K007AB17 ,  3K007BA06 ,  3K007DB03 ,  3K007GA00 ,  3K007GA04 ,  5C058AA00 ,  5C058BA05 ,  5C058BA30 ,  5C058BB14 ,  5C080AA05 ,  5C080AA06 ,  5C080AA08 ,  5C080AA18 ,  5C080BB05 ,  5C080DD05 ,  5C080DD14 ,  5C080DD22 ,  5C080DD29 ,  5C080EE28 ,  5C080GG02 ,  5C080GG12 ,  5C080JJ02 ,  5C080JJ05 ,  5C080JJ07 ,  5C080KK02 ,  5C080KK04 ,  5C080KK07 ,  5C080KK43
引用特許：
出願人引用 (8件)
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