特許
J-GLOBAL ID:200903006025623065

構造解析システム、構造解析方法、および、データ構造

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 窪田 英一郎 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-058931
公開番号(公開出願番号):特開2001-249946
出願日: 2000年03月03日
公開日(公表日): 2001年09月14日
要約:
【要約】【課題】 膨大な事例と材料プロセスとを、簡潔な構造を利用して適切にリンクし、材料プロセスの解析や制御に役立てる。【解決手段】 各々が、発現した形態の構造に着目した複数の軸からなる他事空間空間を管理する空間管理部32と、材料プロセスにて発現した形態に関する具体的事例からなる事例群を記憶する事例データ群42、および、複数の軸の各々の値或いは値の範囲に対応した形態の概形からなる形態データ群44を含むデータベース14とを備え、事例、および、形態の概形の何れかを指定することにより、多軸空間中の位置あるいは領域が提示され、かつ、多軸空間中の位置或いは領域を指定することにより、事例、および、形態の概形の何れかが提示される。
請求項(抜粋):
各々が、発現した形態の構造に着目した複数の軸からなる空間を管理する空間管理手段と、前記複数の軸の各々の値或いは値の範囲に対応した形態の概形からなる形態群を記憶する形態群記憶手段とを備え、前記形態の概形、または、前記空間中の位置或いは領域を指定することにより、前記空間管理手段が、それぞれ、前記空間中の位置或いは領域、または、前記形態の概形を特定し、これを提示するように構成されたことを特徴とする構造解析システム。
IPC (2件):
G06F 17/30 180 ,  C23C 16/52
FI (2件):
G06F 17/30 180 A ,  C23C 16/52
Fターム (9件):
4K030BA38 ,  4K030CA04 ,  4K030FA10 ,  4K030HA11 ,  4K030HA14 ,  4K030KA41 ,  5B075ND20 ,  5B075ND36 ,  5B075QP01
引用特許:
審査官引用 (1件)

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