特許
J-GLOBAL ID：200903006041373079
電磁界回路連携解析装置、電磁界回路連携解析プログラム、電磁界回路連携解析プログラムを格納した記録媒体および電磁界回路連携解析方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
深見 久郎
, 森田 俊雄
, 仲村 義平
, 堀井 豊
, 野田 久登
, 酒井 將行
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-052768
公開番号（公開出願番号）：特開2008-217327
出願日： 2007年03月02日
公開日（公表日）： 2008年09月18日
要約：
【課題】効率的な電磁界回路連携解析を行なう装置を提供する。【解決手段】回路素子を介して電気的に結合された、第1の解析領域と第2の解析領域とに対し、電磁界回路連携解析を行なう電磁界回路連携解析装置であって、第1の解析領域において、第1の電磁界解析を行なう第1の電磁界解析部201と、第2の解析領域において、第2の電磁界解析を行なう第2の電磁界解析部202と、回路素子について回路解析を行なう回路解析部204とを備る。回路解析部204は、各解析部で求めた、第1の解析領域、第2の解析領域と回路素子とを接続する各ポートにおける磁界値を変換して電流源を設定し、回路解析を行なう。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
回路素子を介して電気的に結合された、第1の解析対象物と第2の解析対象物とに対し、電磁界回路連携解析を行なう電磁界回路連携解析装置であって、
前記第1の解析対象物を含む第1の解析領域において、電磁界解析を行なう第1の電磁界解析手段と、
前記第2の解析対象物を含む第2の解析領域において、電磁界解析を行なう第2の電磁界解析手段と、
前記回路素子について回路解析を行なう回路解析手段と、
前記第1の解析対象物と前記回路素子とを接続する前記回路素子の一方の端子における、前記第1の電磁界解析手段で求めた電界値または磁界値と、電圧値または電流値とを相互に変換する第1の連携手段と、
前記第2の解析対象物と前記回路素子とを接続する前記回路素子の他方の端子における、前記第2の電磁界解析手段で求めた電界値または磁界値と、電圧値または電流値とを相互に変換する第2の連携手段とを備える、電磁界回路連携解析装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G06F17/50 666V
, G01R29/08 Z
, G06F17/50 662G
5B046AA08
, 5B046BA04
, 5B046JA04
, 5B046JA10
