特許
J-GLOBAL ID:200903006172662467
高電圧MOSトランジスタ
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
山本 秀策
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-054885
公開番号(公開出願番号):特開2002-314077
出願日: 2002年02月28日
公開日(公表日): 2002年10月25日
要約:
【要約】【課題】 高いブレークダウン電圧とドレイン中の特定の低いON抵抗とを有する高電圧MOSトランジスタを提供すること。【解決手段】 高電圧MOSトランジスタを有する集積回路において、高電圧MOSトランジスタは、半導体領域におけるボディと、ボディ上のゲートと、半導体領域中に形成されたドレインおよびソースであって、第1の濃度のドーパント、第1の深さおよび第1の曲率半径とを有する第1のドレイン領域と、第1の濃度のドーパントよりも低い第2の濃度のドーパント、第1の深さよりも大きい第2の深さ、および第1の曲率半径よりも大きな第2の曲率半径を有する第2のドレイン領域と、第2の領域から上記ゲートへと伸びる第3のドレイン領域であって、ゲートは、第2の濃度のドーパントよりも低い第3の濃度のドーパントおよび第2の曲率半径よりも小さな第3の曲率半径を有する、第3のドレイン領域と、を含むドレインと、を備える。
請求項(抜粋):
高電圧MOSトランジスタを有する集積回路であって、該高電圧MOSトランジスタは、半導体領域におけるボディと、該ボディ上のゲートと、該半導体領域中に形成されたドレインおよびソースであって、第1の濃度のドーパント、第1の深さおよび第1の曲率半径とを有する第1のドレイン領域と、該第1の濃度のドーパントよりも低い第2の濃度のドーパント、該第1の深さよりも大きい第2の深さ、および該第1の曲率半径よりも大きな第2の曲率半径を有する第2のドレイン領域と、該第2の領域から該ゲートへと伸びる第3のドレイン領域であって、該ゲートは、該第2の濃度のドーパントよりも低い第3の濃度のドーパントおよび該第2の曲率半径よりも小さな第3の曲率半径を有する、第3のドレイン領域と、を含む該ドレインと、を備える、高電圧MOSトランジスタを有する集積回路。
IPC (5件):
H01L 29/78
, H01L 21/8234
, H01L 21/8249
, H01L 27/06
, H01L 27/088
FI (3件):
H01L 29/78 301 S
, H01L 27/06 321 A
, H01L 27/08 102 B
Fターム (50件):
5F048AA05
, 5F048AA09
, 5F048AC01
, 5F048AC06
, 5F048AC07
, 5F048BA01
, 5F048BB01
, 5F048BC01
, 5F048BC03
, 5F048BC05
, 5F048BC06
, 5F048BE02
, 5F048BG12
, 5F048CA03
, 5F048DA07
, 5F048DA13
, 5F140AA25
, 5F140AA30
, 5F140AB01
, 5F140AB03
, 5F140AB07
, 5F140AC01
, 5F140AC21
, 5F140BC06
, 5F140BE03
, 5F140BF01
, 5F140BF04
, 5F140BF11
, 5F140BF18
, 5F140BG08
, 5F140BG12
, 5F140BG37
, 5F140BG52
, 5F140BG53
, 5F140BH13
, 5F140BH14
, 5F140BH15
, 5F140BH18
, 5F140BH19
, 5F140BH30
, 5F140BH43
, 5F140BJ05
, 5F140BK10
, 5F140BK13
, 5F140BK20
, 5F140BK22
, 5F140BK26
, 5F140CB01
, 5F140CB08
, 5F140CC07
引用特許:
審査官引用 (7件)
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DMOS FET
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-189230
出願人:横河電機株式会社
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高電圧半導体構造及びその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-087577
出願人:シリコニックス・インコーポレイテッド
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特開平1-264262
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pチャネル型高耐圧MOSFET
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-033305
出願人:富士電機株式会社
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特開平1-138759
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特開平1-264262
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特開平1-138759
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