特許
J-GLOBAL ID：200903006287168385

顔面溝の評価方法及び装置

発明者：
高橋 良人

高橋 良人 について

, 
山木 秀治

山木 秀治 について


出願人/特許権者：
株式会社インフォワード

株式会社インフォワード について


代理人 (3件)： 高矢 諭 ,  松山 圭佑 ,  牧野 剛博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-272334
公開番号（公開出願番号）：特開2006-081846
出願日： 2004年09月17日
公開日（公表日）： 2006年03月30日
要約：
【課題】額の溝部位を再現性良く撮影した上で、溝を簡易に定量的に評価して、治療や化粧の前後で比較検証可能なデータを得る。【解決手段】顔の全景画像を取得して、顔面の特徴点P、P1、P2、Qを自動認識し、該特徴点に基づいて測定範囲510、520、530、540を自動設定し、設定された測定範囲内で顔面溝の形状を計測する。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
顔の全景画像を取得して、 顔面の特徴点を自動認識し、 該特徴点に基づいて測定範囲を自動設定し、 設定された測定範囲内で顔面溝の形状を計測することを特徴とする顔面溝の評価方法。
IPC (4件)：
A61B 5/107 ,  G01B 11/02 ,  G06T 1/00 ,  G01B 11/24
FI (4件)：
A61B5/10 300Q ,  G01B11/02 H ,  G06T1/00 340A ,  G01B11/24 K
Fターム (37件)：
2F065AA23 ,  2F065AA25 ,  2F065AA51 ,  2F065BB05 ,  2F065CC16 ,  2F065FF04 ,  2F065GG02 ,  2F065GG24 ,  2F065HH02 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ19 ,  2F065LL49 ,  2F065MM23 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  2F065UU05 ,  2F065UU06 ,  4C038VB03 ,  4C038VB23 ,  4C038VC02 ,  4C038VC05 ,  5B057BA24 ,  5B057CE12 ,  5B057DA08 ,  5B057DA20 ,  5B057DB02 ,  5B057DB03 ,  5B057DB05 ,  5B057DB06 ,  5B057DB08 ,  5B057DB09 ,  5B057DC03 ,  5B057DC04 ,  5B057DC05 ,  5B057DC17 ,  5B057DC22 ,  5B057DC25
引用特許：
出願人引用 (4件)
全件表示
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM