特許
J-GLOBAL ID:200903006303439009

被検査面の欠陥検査方法およびその装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 八田 幹雄 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-287000
公開番号(公開出願番号):特開平11-118730
出願日: 1997年10月20日
公開日(公表日): 1999年04月30日
要約:
【要約】【目的】 塗装が塗り重ねられるにしたがって欠陥がどのように推移して行くのかを容易に知ることができるようにする。【構成】 電着塗装後の塗装面に存在する欠陥の位置と大きさを記憶し、次に、中塗り塗装後の塗装面に存在する欠陥の位置と大きさを記憶し、最後に、上塗り塗装後の塗装面に存在する欠陥の位置と大きさを記憶する。これらの記憶にしたがい、同一位置に存在する欠陥が塗装の塗り重ねにしたがってどのように推移するのかを調べ、この結果に基づいてそれぞれの塗装工程で手直しすべき欠陥のランクを知る。
請求項(抜粋):
被検査面を複数回に亘って塗装する塗装工程に最適な被検査面の欠陥検査方法であって、塗装終了後、当該被検査面に存在する欠陥の位置、欠陥の程度を当該欠陥ごとに少なくとも2回の塗装について記憶し、当該記憶した欠陥の位置や程度の変化を時系列に調べて欠陥の推移を知ることができるようにしたことを特徴とする被検査面の欠陥検査方法。
IPC (2件):
G01N 21/89 ,  G01N 21/88
FI (2件):
G01N 21/89 Z ,  G01N 21/88 Z
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (2件)

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