特許
J-GLOBAL ID:200903006703577982
研磨パッド
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
津国 肇
, 篠田 文雄
, 束田 幸四郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-295816
公開番号(公開出願番号):特開2005-136400
出願日: 2004年10月08日
公開日(公表日): 2005年05月26日
要約:
【課題】良好なプラナリゼーションを与える研磨パッドを使用すると、欠陥率性能が犠牲になり、低い欠陥率を与える研磨パッドを使用すると、プラナリゼーション性能が犠牲になる。従って、平坦化されたウエーハを低い欠陥率で生み出すための、改良された性能の組合せを有する研磨パッドが要望される。【解決手段】半導体基材を平坦化するのに有用な研磨パッドである。研磨パッドは、少なくとも0.1容量%の気孔率、40°C及び1rad/secで385〜750 l/PaのKELエネルギー損失係数ならびに40°C及び1rad/secで100〜400MPaの弾性率E′を有するポリマー材料を含む。【選択図】なし
請求項(抜粋):
半導体基材を平坦化するのに有用な研磨パッドであって、少なくとも0.1容量%の気孔率、40°C及び1rad/secで385〜750 l/PaのKELエネルギー損失係数ならびに40°C及び1rad/secで100〜400MPaの弾性率E′を有するポリマー材料を含む研磨パッド。
IPC (3件):
H01L21/304
, B24B37/00
, C08J5/14
FI (3件):
H01L21/304 622F
, B24B37/00 C
, C08J5/14
Fターム (17件):
3C058AA07
, 3C058AA09
, 3C058CB01
, 3C058CB02
, 3C058CB10
, 3C058DA12
, 3C058DA17
, 4F071AA53
, 4F071AA78
, 4F071AD03
, 4F071AE13
, 4F071AE17
, 4F071AF20Y
, 4F071AF25Y
, 4F071AH19
, 4F071DA17
, 4F071DA20
引用特許: