特許
J-GLOBAL ID:200903006703577982

研磨パッド

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 津国 肇 ,  篠田 文雄 ,  束田 幸四郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-295816
公開番号(公開出願番号):特開2005-136400
出願日: 2004年10月08日
公開日(公表日): 2005年05月26日
要約:
【課題】良好なプラナリゼーションを与える研磨パッドを使用すると、欠陥率性能が犠牲になり、低い欠陥率を与える研磨パッドを使用すると、プラナリゼーション性能が犠牲になる。従って、平坦化されたウエーハを低い欠陥率で生み出すための、改良された性能の組合せを有する研磨パッドが要望される。【解決手段】半導体基材を平坦化するのに有用な研磨パッドである。研磨パッドは、少なくとも0.1容量%の気孔率、40°C及び1rad/secで385〜750 l/PaのKELエネルギー損失係数ならびに40°C及び1rad/secで100〜400MPaの弾性率E′を有するポリマー材料を含む。【選択図】なし
請求項(抜粋):
半導体基材を平坦化するのに有用な研磨パッドであって、少なくとも0.1容量%の気孔率、40°C及び1rad/secで385〜750 l/PaのKELエネルギー損失係数ならびに40°C及び1rad/secで100〜400MPaの弾性率E′を有するポリマー材料を含む研磨パッド。
IPC (3件):
H01L21/304 ,  B24B37/00 ,  C08J5/14
FI (3件):
H01L21/304 622F ,  B24B37/00 C ,  C08J5/14
Fターム (17件):
3C058AA07 ,  3C058AA09 ,  3C058CB01 ,  3C058CB02 ,  3C058CB10 ,  3C058DA12 ,  3C058DA17 ,  4F071AA53 ,  4F071AA78 ,  4F071AD03 ,  4F071AE13 ,  4F071AE17 ,  4F071AF20Y ,  4F071AF25Y ,  4F071AH19 ,  4F071DA17 ,  4F071DA20
引用特許:
審査官引用 (4件)
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