特許
J-GLOBAL ID：200903006766169426
デジタル装置を測定する方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
古谷 聡
, 溝部 孝彦
, 西山 清春
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-283299
公開番号（公開出願番号）：特開2006-105984
出願日： 2005年09月29日
公開日（公表日）： 2006年04月20日
要約：
【課題】非線形装置の特性をベクトル・ネットワーク・アナライザを利用して調べる装置及び方法を提供すること。【解決手段】非線形装置(140)の特性を調べる方法及び装置であって、該装置を反復デジタル信号(108)で刺激し、ベクトル・ネットワーク・アナライザ(100)を使用した相対位相測定により、そのデジタル刺激に対する装置の応答を測定することからなる方法及び装置。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
デジタル装置を測定する方法であって、
ベクトル・ネットワーク・アナライザ(VNA)(100)を設けるステップと、
クロック周波数で動作する前記装置(140)を前記VNA(100)に接続するステップ(206)と、
調波的に関連する少なくとも2つのスペクトル成分を含むデジタル刺激信号で前記装置を刺激するステップ(301)と、
各スペクトル成分毎に前記装置のSパラメータを測定するステップ(302)と、
反復インパルス信号(108)によって調整された前記デジタル刺激信号で前記装置を刺激するステップ(314、302)と、
少なくとも1対の前記スペクトル成分間において相対位相を測定するステップ(415)と
からなる方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (8件)：
2G028AA01
, 2G028CG01
, 2G028CG15
, 2G028CG18
, 2G028DH06
, 2G028DH11
, 2G028GL02
, 2G028GL09
