微小物の高解像度X線撮像方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：青山葆 (外1名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-542149
公開番号（公開出願番号）：特表2001-519022
出願日： 1998年04月08日
公開日（公表日）： 2001年10月16日
要約：

【要約】サンプル用チャンバー(12)を形成する構造体(11)と、該構造体に装着されていて、X線(6)を発生させるための特定の入射ビーム(5)によって励起しやすい物質(20)とからなるX線撮像用サンプルセル(10)であって、前記セルが、放射されたX線(6)の少なくとも一部がチャンバー(12)を透過してサンプル(7)を照射し、その後セル(10)を出て検出器(35)へ到達するように配置されてなるX線撮像用サンプルセル(10)。

請求項（抜粋）：

サンプル用チャンバーを形成する構造体と、該構造体に装着されていて、X線を発生させるための特定の入射ビームによって励起可能な物質とからなるX線撮像用サンプルセルであって、前記セルが、放射されたX線の少なくとも一部がチャンバーを透過してサンプルを照射し、その後セルを出て検出器へ到達するように配置されてなるX線撮像用サンプルセル。

IPC (2件)：

G21K 7/00 , H01J 35/00

FI (2件)：

G21K 7/00 , H01J 35/00 Z

引用特許：

審査官引用 (8件)

X線顕微鏡
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-159143 出願人：株式会社島津製作所, 理化学研究所
特開平4-294040
特開平4-294040

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