特許
J-GLOBAL ID:200903007764495497
アルミニウムなどにおける非金属介在物などの測定方法およびこれに用いる測定装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
鈴木 学
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-167310
公開番号(公開出願番号):特開2005-003510
出願日: 2003年06月12日
公開日(公表日): 2005年01月06日
要約:
【課題】現場などにおいてリアルタイムで容易且つ正確に測定できるアルミニウムなどにおける非金属介在物などの測定方法およびこれに用いる測定装置を提供する。【解決手段】破断面hを有するアルミニウムなどのサンプルSを係る破断面hを上向きにして配置するテーブルTと、係るテーブルTの上方に位置し断面ほぼ半円形で且つ下向きの凹形反射面2を有する反射ドームDと、係る反射ドームDの凹形反射面2の内側縁に沿って配置された発光ダイオード(光源)4と、上記反射ドームDの頂部付近に明けた開口部6の上方に配置したCCDカメラ(撮像手段)10と、係るカメラ10で撮像された画像をカラー濃淡処理し且つ所定のしきい値により2値化処理などを行うコンピュータ(演算手段)14と、を含む、アルミニウムなどにおける非金属介在物などの測定装置1。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
破断面を有するアルミニウムなどのサンプルをテーブル上に係る破断面を上向きにして配置するステップと、
上記テーブルの上方から断面ほぼ半円形の凹形反射面を介して間接照明を上記破断面に照射するステップと、
上記間接照明の光により照らされた上記破断面をCCDカメラなどの撮像手段で撮像するステップと、
上記撮像手段で撮像された画像をカラー濃淡処理し且つ所定のしきい値により2値化処理するステップと、含む、
ことを特徴とするアルミニウムなどにおける非金属介在物などの測定方法。
IPC (2件):
FI (4件):
G01N33/20 J
, G01N33/20 K
, G01N33/20 M
, G01N21/88 Z
Fターム (24件):
2G051AA90
, 2G051AB02
, 2G051AB20
, 2G051BA20
, 2G051BB03
, 2G051BB11
, 2G051CA04
, 2G051CB05
, 2G051DA05
, 2G051EA11
, 2G051EA14
, 2G051EA17
, 2G051ED09
, 2G055AA03
, 2G055AA04
, 2G055AA05
, 2G055BA05
, 2G055BA06
, 2G055BA20
, 2G055CA21
, 2G055DA08
, 2G055EA08
, 2G055EA10
, 2G055FA02
引用特許:
審査官引用 (6件)
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特開平4-296640
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結晶粒径測定方法及び装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-024910
出願人:住友金属工業株式会社
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表面検査方法及び装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-239501
出願人:ソニー株式会社
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引用文献:
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