特許
J-GLOBAL ID：200903007846487689

飛行時間型質量分析計

発明者：
豊田岐聡

豊田岐聡 について

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石原盛男

石原盛男 について

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岩永光恭

岩永光恭 について

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貫名義裕

貫名義裕 について


出願人/特許権者：
日本電子株式会社

日本電子株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-166692
公開番号（公開出願番号）：特開2005-347150
出願日： 2004年06月04日
公開日（公表日）： 2005年12月15日
要約：
【課題】閉じた軌道に対するイオンの打ち込み及び取り出しを容易にかつ高速で行なえ、かつ、周回中のイオンが失われにくい飛行時間型質量分析計を提供する。【解決手段】複数の扇形電場によって構成された閉軌道に、イオンを打ち込むための入射手段とイオンを取り出すための出射手段を備えた飛行時間型質量分析計であって、前記イオンの入射手段または出射手段は、閉軌道を構成する扇形電場の一部を分割した分割電場である。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
複数の扇形電場によって構成された閉軌道に、イオンを打ち込むための入射手段とイオンを取り出すための出射手段を備えた飛行時間型質量分析計であって、 前記イオンの入射手段または出射手段は、閉軌道を構成する扇形電場の一部を分割した分割電場であることを特徴とする飛行時間型質量分析計。
IPC (2件)：
H01J49/40 ,  G01N27/62
FI (2件)：
H01J49/40 ,  G01N27/62 K
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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