特許
J-GLOBAL ID:200903008070644270

遅延信号生成装置および半導体試験装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 龍華 明裕
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-136191
公開番号(公開出願番号):特開2000-332583
出願日: 1999年05月17日
公開日(公表日): 2000年11月30日
要約:
【要約】【課題】 正確な遅延時間を有する遅延信号を生成する遅延信号生成装置を提供する。【解決手段】 本発明による遅延信号生成装置100が、位相シフト装置70、シフト信号選択器80および選択制御信号供給部90を備える。位相シフト装置70は、複数の位相シフト器(70a、70b・・・70n)を有する。基準信号54が、複数の位相シフト器(70a〜70n)のそれぞれに並列に入力される。複数の位相シフト器(70a〜70n)は、基準信号54の位相をそれぞれ異なるシフト量だけシフトすることにより、複数のシフト信号(72a〜72n)のそれぞれを独立して出力することができる。選択制御信号供給部90が、複数のシフト信号(72a〜72n)のうち、所定のシフト量だけシフトしたシフト信号をシフト信号選択器80に選択させる選択制御信号92を、シフト信号選択器80に供給する。シフト信号選択器80は、選択制御信号92に基づいて、所定のシフト量だけ位相がシフトした特定のシフト信号を選択し、遅延信号74として出力する。
請求項(抜粋):
基準信号を遅延した遅延信号を出力する遅延信号生成装置であって、前記基準信号の位相から、それぞれ異なるシフト量だけ位相がシフトした複数のシフト信号を出力する位相シフト装置と、複数の前記シフト信号のうち、所定のシフト量だけ位相がシフトした前記シフト信号を選択して、前記遅延信号を出力するシフト信号選択器とを備えることを特徴とする遅延信号生成装置。
IPC (4件):
H03K 5/13 ,  G01R 31/3183 ,  G11C 29/00 651 ,  H03L 7/00
FI (4件):
H03K 5/13 ,  G11C 29/00 651 S ,  H03L 7/00 Z ,  G01R 31/28 Q
Fターム (52件):
2G032AC03 ,  2G032AD04 ,  2G032AD05 ,  2G032AD06 ,  2G032AE08 ,  2G032AG07 ,  5J001AA05 ,  5J001BB00 ,  5J001BB02 ,  5J001BB05 ,  5J001BB08 ,  5J001BB09 ,  5J001BB12 ,  5J001BB14 ,  5J001BB15 ,  5J001BB20 ,  5J001BB21 ,  5J001BB23 ,  5J001BB24 ,  5J001CC00 ,  5J001DD02 ,  5J001DD03 ,  5J001DD06 ,  5J001DD09 ,  5J106AA03 ,  5J106CC01 ,  5J106CC15 ,  5J106CC21 ,  5J106CC38 ,  5J106CC58 ,  5J106DD05 ,  5J106DD09 ,  5J106DD13 ,  5J106DD22 ,  5J106DD25 ,  5J106DD35 ,  5J106DD42 ,  5J106DD43 ,  5J106DD46 ,  5J106DD48 ,  5J106KK05 ,  5L106DD22 ,  5L106GG03 ,  9A001BB02 ,  9A001BB03 ,  9A001BB04 ,  9A001EE05 ,  9A001HH34 ,  9A001KK31 ,  9A001KK37 ,  9A001LL02 ,  9A001LL05
引用特許:
審査官引用 (6件)
全件表示

前のページに戻る