特許
J-GLOBAL ID:200903008123789543

細胞及び組織の損傷を評価する方法及びその測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 廣田 雅紀
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-379084
公開番号(公開出願番号):特開2005-137307
出願日: 2003年11月07日
公開日(公表日): 2005年06月02日
要約:
【課題】 培養細胞および組織を培養装置内に静置した状態で、電気抵抗値を測定し、細胞および組織の損傷を評価する方法および電気抵抗値の測定用装置を提供する。【解決手段】 電極を組織の上面側(上面(apical surface)42とその上部空間22を含む)と基底面側(基底面(basal surface)43、細胞外基質43及び43と41に囲まれた部分、その下部空間23を含む)とに装着されるように設置した培養器で、培養した組織の電気抵抗値を測定する。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
電極が、組織の上面側(上面(apical surface)(図2の符号(以下の説明においても同様)42)とその上部空間(22)を含む)と基底面側(基底面(basal surface)(43)、細胞外基質(43及び43と41に囲まれた部分)、その下部空間(23)を含む)とに装着されるように設置した培養器で、培養した組織の電気抵抗値を測定することを特徴とする組織の損傷を評価する方法。
IPC (5件):
C12Q1/02 ,  C12M1/34 ,  C12M3/00 ,  G01N27/04 ,  G01N27/20
FI (5件):
C12Q1/02 ,  C12M1/34 A ,  C12M3/00 A ,  G01N27/04 Z ,  G01N27/20 Z
Fターム (35件):
2G060AA06 ,  2G060AD06 ,  2G060AE01 ,  2G060AF07 ,  2G060AG07 ,  2G060AG08 ,  2G060AG11 ,  2G060AG15 ,  2G060GA01 ,  2G060HA01 ,  2G060HC08 ,  2G060HC13 ,  2G060HC19 ,  2G060HD03 ,  2G060HE02 ,  2G060KA11 ,  4B029AA02 ,  4B029AA07 ,  4B029AA08 ,  4B029BB11 ,  4B029CC02 ,  4B029DF10 ,  4B029DG10 ,  4B029FA15 ,  4B029GA08 ,  4B029GB01 ,  4B029GB02 ,  4B029GB06 ,  4B029GB10 ,  4B063QA01 ,  4B063QQ08 ,  4B063QR77 ,  4B063QS36 ,  4B063QS39 ,  4B063QX04
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (4件)
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引用文献:
審査官引用 (1件)
  • 国立機関原子力試験研究成果報告書, 2001, Vol.40, pp.82.1-82.4

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