特許

J-GLOBAL ID：200903008219408192

ファンクションIDD測定回路および測定方法

発明者： 後藤 文雄
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： 金田 暢之 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-228396
公開番号（公開出願番号）：特開2001-051010
出願日： 1999年08月12日
公開日（公表日）： 2001年02月23日
要約：

【要約】【課題】 短時間で高精度な測定を可能にするファンクションIDD測定回路および測定方法を提供する。【解決手段】 商用電源ライン周波数を逓倍した周波数信号を生成するPLL回路1と、PLL回路1から供給された周波数信号を基にパルスを発生するパルス発生器2と、デバイス電源のライン出力に接続され、 PLL回路1とパルス発生器2とによりデバイス電源のラインから漏れる電源リーク電流を被測定電流として積分し、このときの積分時間を商用電源ライン周波数の1周期に等しくすることができる。

請求項（抜粋）：

デジタル集積回路をテストする検査用のデータであるテストパターンを発生するテストパターン発生器および被測定デバイスである該デジタル集積回路へ電源を供給するデバイス電源とを有し、該デジタル集積回路の電源リーク電流を測定するファンクションIDD測定回路であって、商用電源ライン周波数を逓倍した周波数信号を生成する周波数変換回路と、前記周波数変換回路から供給された周波数信号を基にパルスを発生するパルス発生器と、前記デバイス電源のライン出力に接続され、前記周波数変換回路とパルス発生器とにより該デバイス電源のラインから漏れる電源リーク電流を被測定電流として積分し、このときの積分時間が前記商用電源ライン周波数の1周期に等しいことを特徴とするファンクションIDD測定回路。

IPC (2件)：

G01R 31/26 ,  G01R 31/28

FI (2件)：

G01R 31/26 G ,  G01R 31/28 M

Fターム (18件)：

2G003AA07 ,  2G003AB05 ,  2G003AE06 ,  2G003AH01 ,  2G003AH02 ,  2G032AC03 ,  2G032AD01 ,  2G032AD08 ,  2G032AE07 ,  2G032AE08 ,  2G032AE12 ,  2G032AE14 ,  2G032AG02 ,  2G032AG07 ,  2G032AH04 ,  9A001BB05 ,  9A001KK54 ,  9A001LL05

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 半導体集積回路の断線検出試験方法及び断線検出試験装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-113023   出願人：シャープ株式会社
• 電流検出回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-157545   出願人：株式会社日立製作所, 日立東京エレクトロニクス株式会社
• 特開昭61-087429
  
• 特開昭63-255670