実装部品検査装置

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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：滝本智之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-284765
公開番号（公開出願番号）：特開平9-128547
出願日： 1995年11月01日
公開日（公表日）： 1997年05月16日
要約：

【要約】【課題】プリント基板上に実装された電子部品の一部の汚れや酸化による濃淡レベルの低下、及び部品の周辺ノイズに影響されずに高精度に電子部品の位置を検出することを目的とする。【解決手段】画像入力手段104でプリント基板上に実装された電子部品を撮像し、撮像された電子部品のエッジ点をエッジ検出手段105で検出し、ハフ変換手段106でエッジ点座標をハフ変換によりρθ平面に展開し、角度検出手段107で電子部品の角度θpを求め、線分検出手段108で電子部品の線分を検出し、部品位置判定手段109で電子部品の位置と予め設定した基準データ記憶手段110からの基準位置とを比較し許容範囲内であるかを判定する。

請求項（抜粋）：

プリント基板上に実装された電子部品を撮像する画像入力手段と、予め決められた電子部品の短辺及び長辺の長さから検査領域を設定し、前記画像入力手段の出力である濃淡画像から電子部品のエッジ点を検出するエッジ検出手段と、前記エッジ検出手段からのエッジ点座標をハフ(Hough)変換処理によりρθ平面に展開するハフ変換手段と、前記ハフ変換手段で展開したρθ平面で、θ方向の得票数を用いて電子部品の角度θpを求める角度検出手段と、前記角度θp及びρ方向の得票数並びに予め決められた電子部品の短辺及び長辺の長さを用いて電子部品の短辺および長辺に平行な線分を検出する線分検出手段と、電子部品の位置及び角度の基準値を記憶する基準データ記憶手段と、前記線分検出手段でρθ平面上で抽出された角度θpおよび平行な線分から、xy平面上に逆変換して電子部品の位置と角度を演算し、その演算結果と前記基準データ記憶手段からの基準位置とを比較して予め設定した許容範囲内であるか否かを判定する部品位置判定手段とを具備する実装部品検査装置。

IPC (5件)：

G06T 7/60 , G01B 11/00 , G01B 11/26 , G06T 7/00 , G06T 3/00

FI (5件)：

G06F 15/70 350 B , G01B 11/00 A , G01B 11/26 H , G06F 15/62 405 C , G06F 15/66 345

引用特許：

審査官引用 (8件)

特開平1-119876
位置検出方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-295055 出願人：松下電工株式会社
実装部品検査用データの教示方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-206272 出願人：オムロン株式会社

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