特許
J-GLOBAL ID：200903008632064426
MALDIイオントラップ型質量分析装置及び分析方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-003279
公開番号（公開出願番号）：特開2006-196190
出願日： 2005年01月11日
公開日（公表日）： 2006年07月27日
要約：
【課題】 MALDIイオントラップ型質量分析装置において、1回の測定でより広い質量範囲をカバーすることのできる方法及び装置構成を提供する。 【解決手段】 MALDI部におけるパルスレーザの照射時刻t0とイオントラップ部におけるリング電極へのRF電圧印加時刻t1の間の時間を少しずつ変化させつつ、試料への複数回のパルスレーザ照射を行い、それらにより得られたマススペクトルを加算又は加算平均する。t0とt1の間の時間が短いほど、より小さな質量電荷比を持つイオンがイオントラップ空間122にトラップされるようになるため、このように時間をずらせて多数回の測定を行うことにより、広い質量範囲をカバーしたマススペクトルを得ることができる。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
第1の動作パラメータに従って試料にパルスレーザを照射するMALDI部と、
MALDI部において生成されたイオンをトラップし、第2の動作パラメータに従って質量分析部に放出するイオントラップ部と、
を備えるMALDIイオントラップ型質量分析装置において、
第1の動作パラメータと第2の動作パラメータの関係を変化させつつ複数回のパルスレーザ照射を行うようにMALDI部及びイオントラップ部を制御する制御部と、
を備えることを特徴とするMALDIイオントラップ型質量分析装置。
IPC (4件)：
H01J 49/26
, G01N 27/64
, H01J 49/16
, H01J 49/40
H01J49/26
, G01N27/64 B
, H01J49/16
, H01J49/40
2G041CA01
, 2G041DA04
, 2G041FA12
, 2G041GA04
, 2G041GA07
, 2G041GA08
, 2G041GA09
, 2G041GA10
, 5C038HH02
, 5C038HH26
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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