特許
J-GLOBAL ID：200903063737561272
質量分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-123686
公開番号（公開出願番号）：特開2001-307675
出願日： 2000年04月19日
公開日（公表日）： 2001年11月02日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】 イオンが四重極イオントラップに導入されるタイミングにより、イオンがトラップされる効率が変動し、この効率は四重極イオントラップに印加される高周波電圧の位相に依存している。さらに、トラッピング効率は入射するイオンの運動エネルギーにも依存する。そのため、定常的にイオン導入を行えば、イオンの平均的なトラッピング効率は低く、装置の高感度化が困難であるという課題がある。【解決手段】 パルス電圧が印加されるイオン輸送部と四重極イオントラップとから構成される質量分析装置が提供される。
請求項（抜粋）：
イオンを生成するイオン生成部と、生成されたイオンを輸送する第一の電極を有するイオン輸送部と、輸送されたイオンを第二の電極を有する質量分離するための四重極イオントラップ質量分析部と、前記四重極イオントラップ質量分析部の前記第二の電極に高周波電圧を印加する第二の電源と、前記第二の電源から前記イオン輸送部の前記第一の電極に印加する電圧のタイミングを含んで電圧を印加する第一の電源を有することを特徴とする質量分析装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
H01J 49/42
, G01N 27/62 L
, G01N 27/62 E
5C038JJ02
, 5C038JJ05
, 5C038JJ06
, 5C038JJ07
