特許
J-GLOBAL ID：200903008713936061
散乱式粒子径分布測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-288052
公開番号（公開出願番号）：特開2002-098624
出願日： 2000年09月22日
公開日（公表日）： 2002年04月05日
要約：
【要約】【課題】 光源と光検出器との光軸を、簡単な構造でありながらも精度よく一致させることができる散乱式粒子径分布測定装置を提供すること。【解決手段】 光源1からの光2を試料5に対して照射し、そのときに生ずる散乱光を光検出器7で検出し、このとき得られる散乱光強度パターンに基づいて試料中の粒子径分布を測定する散乱式粒子径分布測定装置において、前記光検出器7を、光源1と光検出器7とを結ぶ軸19と平行またはこれと角度をなすように設けられる軸23,27を中心に回転する機構を少なくとも一つ備えた保持ベース20に保持させている。
請求項（抜粋）：
光源からの光を試料に対して照射し、そのときに生ずる散乱光を光検出器で検出し、このとき得られる散乱光強度パターンに基づいて試料中の粒子径分布を測定する散乱式粒子径分布測定装置において、前記光検出器を、光源と光検出器とを結ぶ軸と平行またはこれと角度をなすように設けられる軸を中心に回転する機構を少なくとも一つ備えた保持ベースに保持させたことを特徴とする散乱式粒子径分布測定装置。
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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