特許
J-GLOBAL ID：200903008886847641

システム軸に対して傾いた層を撮像するためのCT装置

発明者：
ギュンター ハーン

ギュンター ハーン について

, 
ロルフ フプケ

ロルフ フプケ について


出願人/特許権者：
シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト

シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト について


代理人 (1件)： 山口 巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-057458
公開番号（公開出願番号）：特開2000-254117
出願日： 2000年03月02日
公開日（公表日）： 2000年09月19日
要約：
【要約】【課題】 CT装置を、システム軸に対して傾いた層の撮像が低減された技術的費用で可能であるように構成する。【解決手段】 CT装置が少なくとも1つの撮像すべき、システム軸に対して傾いた層の位置を入力するための入力手段を有し、これらの入力手段がCT装置の制御ユニットと、制御ユニットが検査対象物の立体的部分を走査するための測定ユニットをシステム軸の方向に、撮像すべき、システム軸に対して傾いた層が完全に前記の走査される立体的部分の中に含まれているように移動させるべく共同作用し、またその際に電子式計算装置が前記の立体的部分の走査の際に得られたデータから先ず平坦な断層像を求め、そしてこれらの平坦な複数の断層像からの再構築により撮像すべき、システム軸に対して傾いた層の断層像を求める。
請求項（抜粋）：
システム軸に対して傾いた層を撮像するためのCT装置であって、検出器システムと、検査対象物を走査するためシステム軸の周りを移動可能な放射源とを有する測定ユニットを備え、検査対象物および測定ユニットが検査対象物の立体的部分を走査するためにシステム軸の方向に互いに相対的に移動可能であるCT装置において、CT装置が少なくとも1つの撮像すべき、システム軸に対して傾いた層の位置を入力するための入力手段を有し、これらの入力手段はCT装置の制御ユニットと、制御ユニットが検査対象物の立体的部分を走査するための測定ユニットとを、撮像すべきシステム軸に対して傾いた層を完全に前記の走査される立体的部分の中に含まれるようにシステム軸の方向に移動させるべく共同作用し、そしてその際に電子式計算装置が、前記の立体的部分の走査の際に得られたデータから先ず平坦な複数の断層像を求め、そしてこれらの複数の平坦な断層像からの再構築により、システム軸に対して傾いた層の撮像すべき断層像を求めることを特徴とするシステム軸に対して傾いた層を撮像するためのCT装置。
IPC (2件)：
A61B 6/03 360 ,  A61B 6/03
FI (2件)：
A61B 6/03 360 H ,  A61B 6/03 360 Q
引用特許：
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM