特許
J-GLOBAL ID:200903008938411669

当接型測定器

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 木下 實三 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-199641
公開番号(公開出願番号):特開平9-049720
出願日: 1995年08月04日
公開日(公表日): 1997年02月18日
要約:
【要約】【課題】 測定力によって生じてる測定子の撓みによる誤差を補正し、より高精度な測定が可能な当接型測定器を提供する。【解決手段】 ジョー3を有する本尺1と、この本尺に摺動自在に設けられかつジョー3とともに被測定物を挟持するジョー4を有するスライダ2と、このスライダの移動量を検出する測長センサ11とを備えた当接型測定器において、前記ジョー3,4に加わる測定力を検出する測定力検出手段26と、この測定力検出手段で検出された測定力に基づく前記ジョー3,4の測定点における撓み量を求め、この撓み量を前記測長センサ11で検出されたスライダの移動量から補正する誤差補正回路13を備える。
請求項(抜粋):
本体と、この本体に摺動自在に設けられかつ被測定物に当接される測定子を有するスライダと、このスライダの移動量を検出する測長手段とを備えた当接型測定器において、前記測定子に加わる測定力を検出する測定力検出手段と、この測定力検出手段で検出された測定力に基づいて前記測定子の測定点における撓み量を求め、この撓み量を前記測長手段で検出されたスライダの移動量から補正する誤差補正手段とを備えることを特徴とする当接型測定器。
IPC (2件):
G01B 21/02 ,  G01B 3/20 101
FI (2件):
G01B 21/02 ,  G01B 3/20 101 Z
引用特許:
出願人引用 (6件)
  • 特開昭48-003561
  • 特開昭58-002605
  • 特開昭54-092347
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審査官引用 (3件)
  • 特開昭48-003561
  • 特開昭58-002605
  • 特開昭54-092347

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