特許
J-GLOBAL ID：200903009008132340

光スイッチサブシステム

発明者：
奥村 俊之

奥村 俊之 について

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柳田 美穂

柳田 美穂 について

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柳町 成行

柳町 成行 について


出願人/特許権者：
日本電気株式会社

日本電気株式会社 について


代理人 (1件)： 渡辺 喜平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-200442
公開番号（公開出願番号）：特開2004-048187
出願日： 2002年07月09日
公開日（公表日）： 2004年02月12日
要約：
【課題】光スイッチサブシステムの信頼性及び性能を向上させる。【解決手段】微小電気機械(MEMS)を用いて光路のスイッチングを行う光スイッチサブシステム1において、光スイッチサブシステム1の動作特性を測定し、その測定結果に関して自己診断を行う。自己診断の結果は、上位システム20に通知して故障判断に用いる。また、光スイッチ部14の動作制御に関するキャリブレーションを行い、光スイッチ部14における応答性の悪化を改善する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
光信号を入力する複数の入力光ポートと、 光信号を出力する複数の出力光ポートと、 微小電気機械を用いて構成され、複数の前記入力光ポートと複数の前記出力光ポートとの間で光路のスイッチングを行う光スイッチ部と、 上位システムからの命令により、前記光スイッチ部をスイッチング動作させる制御部とから構成される光スイッチサブシステムであって、 前記光スイッチサブシステムの動作特性を測定し、その測定結果に関して自己診断を行う自己診断手段を備える ことを特徴とする光スイッチサブシステム。
IPC (2件)：
H04B10/02 ,  G02B26/08
FI (2件)：
H04B9/00 T ,  G02B26/08 E
Fターム (12件)：
2H041AA16 ,  2H041AB14 ,  2H041AC06 ,  2H041AZ05 ,  5K102MB20 ,  5K102MD01 ,  5K102MD03 ,  5K102PD17 ,  5K102PH49 ,  5K102RB02 ,  5K102RD02 ,  5K102RD28
引用特許：
審査官引用 (4件)
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