特許
J-GLOBAL ID:200903009077394560

横型接合型電界効果トランジスタおよびその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 深見 久郎 (外4名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-025253
公開番号(公開出願番号):特開2002-231730
出願日: 2001年02月01日
公開日(公表日): 2002年08月16日
要約:
【要約】【課題】 高い耐圧性能を維持した上で、さらにオン抵抗を低くすることができる構造を有する横型JFETおよびその製造方法を提供する。【解決手段】 半導体基板上の第1導電型半導体層2と、その上の第2導電型不純物を含む第2導電型半導体層3,4と、その上の第2導電型電極層5と、第2導電型半導体層3,4内にいたる深さのトレンチ11と、トレンチの底部下方の第2導電型半導体層に、第1導電型不純物を含む第1導電型の不純物領域7a,7bが配置されている。
請求項(抜粋):
半導体基板上に位置する第1導電型半導体層と、前記第1導電型半導体層の上に位置し、第2導電型不純物を含む第2導電型半導体層と、前記第2導電型半導体層の上に位置する当該第2導電型半導体層よりも高濃度の第2導電型不純物を含む第2導電型電極層と、前記第2導電型電極層を通り第2導電型半導体層内にいたる深さのトレンチとを備え、前記トレンチの底部と前記第1導電型半導体層との間の前記第2導電型半導体層において、第1導電型不純物を含む第1導電型の不純物領域が配置されている、横型接合型電界効果トランジスタ。
IPC (2件):
H01L 21/337 ,  H01L 29/808
Fターム (10件):
5F102FA00 ,  5F102FA01 ,  5F102GB01 ,  5F102GC02 ,  5F102GC03 ,  5F102GD04 ,  5F102GJ02 ,  5F102GR03 ,  5F102HC01 ,  5F102HC07
引用特許:
審査官引用 (6件)
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