物質の熱的調査方法及び装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：石原昌典 , 石原孝志 , 生井和平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-159822
公開番号（公開出願番号）：特開2004-012462
出願日： 2003年06月04日
公開日（公表日）： 2004年01月15日
要約：

【課題】等温区分及び非等温区分から成る温度プロファイルによって物質をドライブすることで熱的に物質を調査する方法及び装置を提供する。【解決手段】本方法及び装置は、温度プロファイルへ物質を晒すことによって生成される温度反応を表わす信号(400)を測定・評価する。非動的区分(200、201、202、203;300)に伴う時間区分期間中に測定される応答信号値を用いて、測定応答信号(400)の動的成分(404)を引き出すことで、物質を熱的に調査する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

物質の熱的調査方法であって、該方法は、前記物質を時間制御された温度プロファイルへ晒し、生成される温度反応を表わす信号(400)を測定及び評価し、前記温度プロファイルは、関連する時間区分にわたって温度が変動する動的区分(204、205、206;301)及び前記温度の変動が関連する時間区分にわたって前記動的区分における前記温度変動に対して小さい非動的区分(200、201、202、203;300)の時間連続を含み、前記動的区分のそれぞれが前記非動的区分の2つの連続区分間にあり、前記評価には測定応答信号から熱容量関連情報を得るための前記動的区分(204、205、206;301)に関連する時間区分中に測定された応答信号値の使用が含まれ、非動的区分(200、201、202、203;300)に伴う時間区分期間中に測定される応答信号値を用いて前記測定応答信号(400)の動的成分(404)を引き出すことを特徴とする物質の熱的調査方法。

IPC (1件)：

G01N25/20

FI (1件)：

G01N25/20 B

Fターム (9件)：

2G040AB05 , 2G040CA02 , 2G040CB03 , 2G040DA02 , 2G040EA02 , 2G040EB02 , 2G040EC08 , 2G040EC09 , 2G040HA06

引用特許：

審査官引用 (4件)

実部信号成分と虚部信号成分を用いた示差分析のための装置および方法
公報種別：公表公報出願番号：特願平8-500986 出願人：ザパーキン-エルマーコーポレイション
実部成分と虚部成分を用いた示差分析
公報種別：公表公報出願番号：特願平8-500987 出願人：ザパーキン-エルマーコーポレイション
熱分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-238408 出願人：セイコー電子工業株式会社

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