特許
J-GLOBAL ID：200903009140467270

イオントラップ質量分析方法

発明者：
加藤 義昭

加藤 義昭 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 高田 幸彦 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-342835
公開番号（公開出願番号）：特開2002-184348
出願日： 1999年12月02日
公開日（公表日）： 2002年06月28日
要約：
【要約】【課題】イオントラップ質量分析計を用いた有機化合物の分析において、高感度で高信頼性の定量分析を達成する。【解決手段】同位体ピークを含む広質量範囲のイオンを単離した後、複数のイオンを同時に衝突誘起解離を行う。娘イオンマススペクトルを得る。得られる娘イオンの同位元体ピークのイオン電流値を積算する。娘イオンの同位体パターンと計算値を比較する事により、分析の良否判定を行う事ができる。
請求項（抜粋）：
質量対電荷比が所定の質量範囲内にあるイオンをトラップするように構成された三次元四重極電界を有するイオントラップ空間を形成し、前記トラップ空間の中でイオンを生成するかまたは外部からイオンを注入して前記質量対電荷比が所定の範囲内にあるイオンを前記イオントラップ空間の中にトラップし、前駆イオンをイオントラップ空間に残しそれ以外のイオンを除去し、トラップした前駆イオンの衝突誘起解離を行い、娘イオンを生成してイオントラップ空間にトラップし、四重極電界を変化させ娘イオンのイオン電流を検出する質量分析方法において、2質量以上の質量範囲の前駆イオンをイオントラップ空間に残し、この質量範囲に含まれる異なる質量の前駆イオンの衝突誘起解離を行う事を特徴とする質量分析方法。
IPC (3件)：
H01J 49/42 ,  G01N 27/62 ,  G01N 27/62 ZAB
FI (3件)：
H01J 49/42 ,  G01N 27/62 L ,  G01N 27/62 ZAB V
Fターム (4件)：
5C038JJ06 ,  5C038JJ07 ,  5C038JJ09 ,  5C038JJ11
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (7件)
  • 特表平7-502138
  • 特表平7-502138
  • 質量スペクトル解析法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-145992   出願人：株式会社日立製作所, 日立計測エンジニアリング株式会社
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