分析装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：高橋明夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-109016
公開番号（公開出願番号）：特開平11-304760
出願日： 1998年04月20日
公開日（公表日）： 1999年11月05日
要約：

【要約】【課題】ダイオキシンや有機ニトロ化合物等を容易かつ高感度に測定する。【解決手段】試料を負のコロナ放電を用いて効率的にイオン化し、生成した負イオンを質量分析計を用いて測定する。【効果】ダイオキシンやニトロ化合物等を容易に分析できる。

請求項（抜粋）：

測定すべき気体試料を導入する試料導入部と、導入された上記気体試料を負のコロナ放電するコロナ放電部と、上記コロナ放電によって生じたイオンを質量分析する質量分析部を具備することを特徴とする分析装置。

IPC (5件)：

G01N 27/62 ZAB , G01N 27/68 , H01J 49/04 , H01J 49/10 , H01J 49/26

FI (5件)：

G01N 27/62 ZAB V , G01N 27/68 B , H01J 49/04 , H01J 49/10 , H01J 49/26

引用特許：

出願人引用 (6件)

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審査官引用 (8件)

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