特許
J-GLOBAL ID:200903009675808620
光伝達特性測定方法およびこの方法を実施する装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
草野 卓 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-000989
公開番号(公開出願番号):特開2000-199730
出願日: 1999年01月06日
公開日(公表日): 2000年07月18日
要約:
【要約】【課題】 光デバイスの光伝達特性を広光周波数帯域、高分解能で光周波数或は波長軸において測定する光伝達特性測定方法および装置を提供する。【解決手段】 測定用波長可変掃引光源10の光周波数の掃引を光周波数帯域を順次にずらして被測定光デバイスDUTの測定をn回実行し、光周波数軸上においてn回分の測定データを連続してつなぎ合わせる光伝達特性測定方法および装置。
請求項(抜粋):
光周波数の掃引を光周波数帯域を順次にずらして被測定光デバイスの測定をn回実行し、光周波数軸上においてn回分の測定データを連続してつなぎ合わせることを特徴とする光伝達特性測定方法。
IPC (2件):
FI (2件):
G01M 11/02 A
, G01M 11/00 T
Fターム (2件):
引用特許:
審査官引用 (5件)
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光ネットワークアナライザ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-225817
出願人:株式会社東芝
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特開昭63-115027
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特開平3-154844
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