特許
J-GLOBAL ID：200903009739676951

誘電体の複素誘電率の測定方法及び測定装置

発明者：
江畑 克史

江畑 克史 について


出願人/特許権者：
TDK株式会社

TDK株式会社 について


代理人 (2件)： 内藤 照雄 ,  宮越 典明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-059742
公開番号（公開出願番号）：特開2005-062152
出願日： 2004年03月03日
公開日（公表日）： 2005年03月10日
要約：
【課題】 誘電体の複素誘電率を高い精度で測定することができる誘電体の複素誘電率の測定方法を提供することである。【解決手段】 誘電体および気体が封入された共振器4に、電磁波を入力し、電磁波の入力に応答して、共振器4から出力された電磁波の共振モードにおける共振周波数、挿入損失および電力半値幅をネットワークアナライザ16で測定し、測定された共振周波数、挿入損失および電力半値幅から誘電体の複素誘電率を算出する。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
モード発生器内に誘電体を封入する封入工程と、 前記モード発生器に電磁波を入力する入力工程と、 前記モード発生器から出力される電磁波を測定する測定工程と、 測定された前記電磁波を基に複素誘電率を算出する算出工程と、を備えたことを特徴とする誘電体の複素誘電率の測定方法。
IPC (2件)：
G01N22/00 ,  G01R27/26
FI (4件)：
G01N22/00 Y ,  G01N22/00 G ,  G01N22/00 J ,  G01R27/26 H
Fターム (13件)：
2G028AA01 ,  2G028BB05 ,  2G028BC03 ,  2G028BC04 ,  2G028BC05 ,  2G028BD03 ,  2G028BF07 ,  2G028CG09 ,  2G028CG10 ,  2G028CG13 ,  2G028CG14 ,  2G028DH15 ,  2G028EJ01
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (8件)
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引用文献：
審査官引用 (2件)

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