特許
J-GLOBAL ID:200903010873941090
材料健全性評価装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-066290
公開番号(公開出願番号):特開2007-240447
出願日: 2006年03月10日
公開日(公表日): 2007年09月20日
要約:
【課題】超音波及びAE検出を利用した検出感度のすぐれたファイバを超音波伝搬路として利用する材料健全性評価装置を実現する。【解決手段】圧電超音波発振子4と、圧電超音波発振子4に一端が取り付けられた超音波ガイド光ファイバ2と、被検体5に伝達された超音波の伝搬状況を測定する測定手段とから成る材料健全性評価装置であり、圧電超音波発振子4は、発生した超音波を上記超音波ガイド光ファイバ2に伝達させ、超音波ガイド光ファイバ2は、その一部が健全性評価対象となる被検体5の内部または表面に取り付けられ、超音波は被検体5に伝達するものであり、 測定手段は、超音波の伝搬状況により被検体5中の欠陥の存在の有無を検査可能とする。【選択図】図1
請求項(抜粋):
圧電超音波発振子と、該圧電超音波発振子に一端が取り付けられた超音波ガイド光ファイバと、被検体に伝達された超音波の伝搬状況を測定する測定手段とから成る材料健全性評価装置であって、
前記圧電超音波発振子は、発生した超音波を上記超音波ガイド光ファイバに伝達させ、
該超音波ガイド光ファイバは、その一部が健全性評価対象となる被検体の内部または表面に取り付けられ、前記超音波は被検体に伝達するものであり、
前記測定手段は、前記超音波の伝搬状況により被検体中の欠陥の存在の有無を検査可能とすることを特徴とする材料健全性評価装置。
IPC (3件):
G01N 29/04
, G01N 29/00
, G01N 29/14
FI (4件):
G01N29/08
, G01N29/00 501
, G01N29/14
, G01N29/04 504
Fターム (16件):
2G047AA06
, 2G047AA07
, 2G047BA01
, 2G047BA05
, 2G047BC07
, 2G047CA01
, 2G047CA02
, 2G047CA04
, 2G047CA07
, 2G047EA08
, 2G047EA10
, 2G047EA11
, 2G047GA02
, 2G047GA03
, 2G047GC00
, 2G047GE01
引用特許:
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