特許
J-GLOBAL ID：200903011096066608

光波形測定装置および光波形測定方法

発明者：
二見 史生

二見 史生 について

, 
渡辺 茂樹

渡辺 茂樹 について


出願人/特許権者：
富士通株式会社

富士通株式会社 について


代理人 (1件)： 真田 有
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-009509
公開番号（公開出願番号）：特開2006-194842
出願日： 2005年01月17日
公開日（公表日）： 2006年07月27日
要約：
【課題】 偏波ダイバーシティ構成を用いずに強度相関信号の偏波依存性を無くす。【解決手段】 被測定光をサンプリングするためのサンプリング光パルスを出力しうるサンプリング光出力部3と、該被測定光およびサンプリング光出力部3からの該サンプリング光パルスによる非線形光学効果を生じさせて、該被測定光のサンプリング結果となる光を出力しうるサンプリング結果出力部4と、該被測定光の測定開始前において、サンプリング光出力部3に入力される該被測定光の偏波状態を該サンプリング結果出力部4からの光のパワーレベルに基づき所定の状態になるように制御する偏波状態制御部7と、をそなえるように構成する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
被測定光をサンプリングするためのサンプリング光パルスを出力しうるサンプリング光出力部と、 該被測定光および該サンプリング光出力部からの該サンプリング光パルスによる非線形光学効果を生じさせて、該被測定光のサンプリング結果となる光を出力しうるサンプリング結果出力部と、 該被測定光の測定開始前において、該サンプリング光出力部に入力される該被測定光の偏波状態を該サンプリング結果出力部からの光のパワーレベルに基づき所定の状態になるように制御する偏波状態制御部と、 をそなえて構成されたことを特徴とする、光波形測定装置。
IPC (1件)：
G01J 11/00
FI (1件)：
G01J11/00
Fターム (12件)：
2G065AA12 ,  2G065AB09 ,  2G065AB16 ,  2G065BA09 ,  2G065BB02 ,  2G065BB32 ,  2G065BB33 ,  2G065BB34 ,  2G065BC04 ,  2G065BC28 ,  2G065BC35 ,  2G065BD03
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (3件)

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