特許
J-GLOBAL ID：200903011140129663

形状検証システムおよび形状検証方法

発明者：
中嶋 歩

中嶋 歩 について

, 
西尾 友康

西尾 友康 について


出願人/特許権者：
本田技研工業株式会社

本田技研工業株式会社 について


代理人 (1件)： 山▲崎▼ 薫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-110268
公開番号（公開出願番号）：特開2000-304527
出願日： 1999年04月19日
公開日（公表日）： 2000年11月02日
要約：
【要約】【課題】 検査具や三次元測定機を用いずに簡単に製品の形状を検証することが可能な形状検証システムや形状検証方法を提供する。【解決手段】 撮像装置で撮像された対象物の実写像48と、実写像48の投影面すなわち像面に投影された対象物の二次元理想像47とを相互に比較する。二次元理想像47は、三次元設計データで再現される対象物の三次元像に基づき投影面に描かれる。三次元像が移動すると、その移動は二次元理想像47の移動に反映される。二次元理想像47と実写像48とが一致するまでに測定される三次元像の移動量は、設計データに対する実物の対象物の寸法誤差を表現する。
請求項（抜粋）：
対象物の実写像が映し出される投影面に、対象物を取り込む三次元空間に設定されて対象物の実寸法を規定するスケールを投影するスケール設定回路を備えることを特徴とする形状検証システム。
IPC (2件)：
G01B 21/20 ,  G06T 7/00
FI (2件)：
G01B 21/20 C ,  G06F 15/62 415
Fターム (25件)：
2F069AA04 ,  2F069AA66 ,  2F069BB21 ,  2F069GG01 ,  2F069GG04 ,  2F069GG06 ,  2F069GG07 ,  2F069GG59 ,  2F069GG62 ,  2F069GG72 ,  2F069HH01 ,  2F069HH30 ,  2F069MM02 ,  2F069NN00 ,  2F069NN15 ,  2F069PP01 ,  2F069QQ05 ,  2F069QQ10 ,  5B057CE08 ,  5B057DA03 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DC08 ,  5B057DC09 ,  5B057DC16
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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