特許
J-GLOBAL ID:200903011555916903
光学補償フィルムの欠陥検査方法及び装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
萩野 平 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-193064
公開番号(公開出願番号):特開2000-028546
出願日: 1998年07月08日
公開日(公表日): 2000年01月28日
要約:
【要約】【課題】 液晶表示装置用の光学補償フィルムの複屈折ムラを起こす欠陥を特定でき、欠陥の発生源に対して適切な処置が可能な、光学補償フィルムの欠陥検査方法及び装置を提供する。【解決手段】 連続的に搬送される、光学的に異方性を有するフィルム10の面に投光する手段と、前記フィルムを介した光を受光する受光手段とが設けられ、前記フィルムの欠陥部分の光量が正常部分の光量と異なることを利用して前記欠陥を検出する光学補償フィルムの欠陥検査装置において、前記欠陥部分Bの散乱光L2を検出する散乱光検出手段30と、前記欠陥部分A,Bの透過光L1を検出する透過光検出手段20とが独立に設けられ、前記散乱光L2と前記透過光L1の個々の情報を得ることを特徴とする光学補償フィルムの欠陥検査装置。
請求項(抜粋):
連続的に搬送される、光学的に異方性を有するフィルムの面に投光し、前記フィルムを介した光を受光することにより、前記フィルムの欠陥部分の光量が正常部分の光量と異なることを利用して前記欠陥を検出する光学補償フィルムの欠陥検査方法において、前記フィルムの欠陥部分における散乱光と、前記フィルムを2枚の偏光子の間に配置したときの前記欠陥部分の透過光とを独立に検出して、前記散乱光に関連した欠陥の情報と前記透過光に関連した欠陥の情報とを得ることを特徴とする光学補償フィルムの欠陥検査方法。
Fターム (16件):
2G051AA41
, 2G051AB01
, 2G051AB02
, 2G051BA11
, 2G051BB03
, 2G051BB07
, 2G051CA03
, 2G051CB02
, 2G051CB05
, 2G051DA06
, 2G051EA08
, 2G051EA11
, 2G051EA14
, 2G051EA16
, 2G051EB01
, 2G051EC05
引用特許: