特許
J-GLOBAL ID：200903011647680540

3次元情報取得装置及び3次元情報取得方法

発明者：
高橋 和彦

高橋 和彦 について


出願人/特許権者：
オリンパス光学工業株式会社

オリンパス光学工業株式会社 について


代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-007689
公開番号（公開出願番号）：特開2003-207324
出願日： 2002年01月16日
公開日（公表日）： 2003年07月25日
要約：
【要約】【課題】本発明は、パターン光撮影画像と通常撮影画像とのずれを補正することによって、被撮影物の形状情報と表面属性情報の張り合わせ精度を向上させることを可能とした3次元情報取得装置及び3次元情報取得方法を提供する。【解決手段】本発明の一態様によると、パターン投影画像中における対象物体の位置と、通常撮影画像中における前記対象物体の位置のずれを算出し、前記算出されたずれを打ち消すように、前記パターン投影画像または前記通常撮影画像に対して補正計算処理を実行し、前記補正計算処理の結果と前記補正計算処理が施されなかった前記パターン投影画像または前記通常撮影画像とを利用して、前記対象物体の3次元形状及び表面属性を取得する計算手段を有することを特徴とする3次元情報取得装置が提供される。
請求項（抜粋）：
所定のパターンを対象物体に投影して、前記対象物体を撮影したパターン投影画像と、前記パターン投影画像の撮影と相前後して、前記パターンを投影せずに前記対象物体を撮影した通常撮影画像とを獲得し、前記パターン投影画像と前記通常撮影画像とに基いて、前記対象物体の3次元形状及び表面属性を取得する3次元情報取得装置において、前記パターン投影画像中における前記対象物体の位置と、前記通常撮影画像中における前記対象物体の位置のずれを算出し、前記算出されたずれを打ち消すように、前記パターン投影画像または前記通常撮影画像に対して補正計算処理を実行し、前記補正計算処理の結果と前記補正計算処理が施されなかった前記パターン投影画像または前記通常撮影画像とを利用して、前記対象物体の3次元形状及び表面属性を取得する計算手段を有することを特徴とする3次元情報取得装置。
IPC (2件)：
G01B 11/25 ,  G06T 1/00 315
FI (2件)：
G06T 1/00 315 ,  G01B 11/24 E
Fターム (26件)：
2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065BB18 ,  2F065DD14 ,  2F065EE06 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065FF61 ,  2F065GG08 ,  2F065HH06 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ31 ,  5B057AA20 ,  5B057BA02 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC09 ,  5B057DC16 ,  5B057DC25 ,  5B057DC32
引用特許：
審査官引用 (5件)
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