電気光学装置の検査方法、電気光学装置の検査用回路、電気光学装置および電子機器

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：上柳雅誉 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-372839
公開番号（公開出願番号）：特開2002-174655
出願日： 2000年12月07日
公開日（公表日）： 2002年06月21日
要約：

【要約】【課題】配線や電極等の欠陥の有無について正確な検査を行う。【解決手段】走査線4-iとデータ線5-jとの交差に対応して設けられた容量62を具備する電気光学装置100を検査する方法。容量62にデータ信号に応じた電荷を蓄積させた後、データ線5-jと読出信号線35との間に設けられた検査スイッチング素子34-jをオンすることにより、上記容量62に蓄積された電荷に応じた電圧を読出信号線35に出力する。検査スイッチング素子34-jをオンするタイミングは、検査用回路3の動作を規定する検査用クロック信号TCKのレベル変化のタイミングとは異なっている。

請求項（抜粋）：

走査線とデータ線との交差に対応して設けられて容量の一端をなす画素電極と、前記画素電極と前記データ線との間に介挿された画素スイッチング素子とを具備する電気光学装置を、レベル変化を繰り返す動作指示信号に基づいて動作する検査用回路を用いて検査する方法であって、前記画素スイッチング素子をオンさせることにより前記画素電極にデータ信号を与える第1過程と、前記画素電極に印加された電圧を、前記検査用回路を用いて読出信号線に出力させる過程であって、前記動作指示信号のレベル変化のタイミングよりも遅れたタイミングで、前記画素電極と前記データ線との間に介挿された検査スイッチング素子をオンさせる第2過程と、前記読出信号線に出力された電圧が、当該画素電極に与えられたデータ信号に応じた電圧に対応するものであるか否かを判定する第3過程とを有することを特徴とする電気光学装置の検査方法。

IPC (8件)：

G01R 31/02 , G02F 1/13 101 , G02F 1/133 550 , G02F 1/1345 , G09G 3/20 670 , G09G 3/20 , G09G 3/34 , G09G 3/36

FI (8件)：

G01R 31/02 , G02F 1/13 101 , G02F 1/133 550 , G02F 1/1345 , G09G 3/20 670 B , G09G 3/20 670 Q , G09G 3/34 Z , G09G 3/36

Fターム (41件)：

2G014AA02 , 2G014AA03 , 2G014AB21 , 2G014AB59 , 2G014AC09 , 2H088FA13 , 2H088FA30 , 2H088HA02 , 2H088HA06 , 2H088HA08 , 2H088KA24 , 2H088MA16 , 2H092GA59 , 2H092JA24 , 2H092JB77 , 2H092MA57 , 2H092MA58 , 2H092NA30 , 2H092PA06 , 2H093NA16 , 2H093NC10 , 2H093NC12 , 2H093NC16 , 2H093NC22 , 2H093NC26 , 2H093NC34 , 2H093NC59 , 2H093ND56 , 2H093NE03 , 5C006BB16 , 5C006BC11 , 5C006BF07 , 5C006EB01 , 5C080AA10 , 5C080BB05 , 5C080DD15 , 5C080DD28 , 5C080FF11 , 5C080JJ02 , 5C080JJ04 , 5C080JJ06

引用特許：

審査官引用 (8件)

アクティブマトリクス基板の検査方法,アクティブマトリクス基板,液晶装置および電子機器
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-029568 出願人：セイコーエプソン株式会社
特開平4-371916
特開昭63-268027

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