特許
J-GLOBAL ID：200903012272585648

モアレ縞を用いたずれ、パタ-ンの回転、ゆがみ、位置ずれ検出方法

発明者：
森本 吉春

森本 吉春 について

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藤垣 元治

藤垣 元治 について

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松井 徹

松井 徹 について

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李 志遠

李 志遠 について


出願人/特許権者：
国立大学法人 和歌山大学

国立大学法人 和歌山大学 について


代理人 (6件)： 杉村 興作 ,  徳永 博 ,  岩佐 義幸 ,  藤谷 史朗 ,  来間 清志 ,  冨田 和幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-260836
公開番号（公開出願番号）：特開2007-071769
出願日： 2005年09月08日
公開日（公表日）： 2007年03月22日
要約：
【課題】モアレ縞を観察することにより、画素オーダー以下の精度で、容易に画素合わせや位置合わせを行なうことを目的とする。【解決手段】ピッチが2画素のテストパターンを表示もしくは貼付したパターンを画素が2次元に配列している撮像素子により撮影し、撮影された画像に対して隣り合う上下左右の4画素との差の絶対値の和を計算する画像処理を行い、所定のモアレ縞本数を具えるモアレパターンが得ることにより、光学系のずれ、パターンの回転及び位置のずれを検出する。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
ピッチが2画素のテストパターンを表示もしくは貼付したパターンを画素が2次元に配列している撮像素子により撮影し、撮影された画像に対して隣り合う上下左右の4画素との差の絶対値の和を計算する画像処理を行い、所定のモアレ縞本数を具えるモアレパターンを得ることを特徴とする光学系のずれ、パターンの回転及び位置のずれ検出方法。
IPC (3件)：
G01B 11/00 ,  G01B 11/26 ,  G06T 1/00
FI (3件)：
G01B11/00 H ,  G01B11/26 H ,  G06T1/00 305C
Fターム (39件)：
2F065AA09 ,  2F065AA20 ,  2F065AA39 ,  2F065AA53 ,  2F065CC17 ,  2F065CC21 ,  2F065DD03 ,  2F065DD06 ,  2F065EE00 ,  2F065FF01 ,  2F065FF06 ,  2F065FF61 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065LL12 ,  2F065LL62 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ33 ,  2F065RR06 ,  2F065RR09 ,  2F065UU05 ,  2F065UU07 ,  5B057AA03 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC02 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC08
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (4件)
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