特許

J-GLOBAL ID：200903012361979676

荷電粒子ビーム出射装置及び荷電粒子ビーム出射方法

発明者： 森山 國夫 ,  大内 紀明 ,  田所 昌宏 ,  藤巻 寿隆
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  株式会社日立情報制御ソリューションズ
代理人 (1件)： 井上 学
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-187352
公開番号（公開出願番号）：特開2008-012121
出願日： 2006年07月07日
公開日（公表日）： 2008年01月24日
要約：

【課題】ビーム照射中にSOBP幅が所望の幅であるかどうかをリアルタイムに確認することにより、治療の精度を向上する。【解決手段】シンクロトロン4を有する荷電粒子ビーム発生装置1と、この荷電粒子ビーム発生装置1から出射されたイオンビームのブラッグピーク幅を形成するRMW装置28、及びこのRMW装置28のイオンビーム進行方向に設けられ、イオンビームの線量を検出する線量モニタ31を備えた照射装置16と、線量モニタ31の検出値に基づいて、RMW装置28により形成されたイオンビームのブラッグピーク幅を演算するSOBP幅演算装置73とを備える。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

荷電粒子ビームを照射対象に対して出射する荷電粒子ビーム出射装置おいて、 前記荷電粒子ビームを発生する荷電粒子ビーム発生装置と、 前記荷電粒子ビーム発生装置から出射された前記荷電粒子ビームの進行方向における厚みが変化し、かつ通過する前記荷電粒子ビームのエネルギーを変えて前記照射対象内に拡大ブラッグピーク幅を形成させるビームエネルギー調整装置を有し、前記ビームエネルギー調整装置を通過した前記荷電粒子ビームを前記照射対象に対して出射する照射装置と、 前記荷電粒子ビームの進行方向で前記ビームエネルギー調整装置の下流側の前記荷電粒子ビームの線量を測定する線量測定装置と、 前記線量測定装置で測定された線量値に基づいて前記拡大ブラッグピーク幅を算出する拡大ブラッグピーク幅演算装置とを備えたことを特徴とする荷電粒子ビーム出射装置。

IPC (6件)：

A61N 5/10 ,  G21K 5/04 ,  G21K 3/00 ,  G21K 5/00 ,  H05H 13/00 ,  H05H 13/04

FI (9件)：

A61N5/10 D ,  A61N5/10 H ,  A61N5/10 N ,  G21K5/04 A ,  G21K5/04 D ,  G21K3/00 W ,  G21K5/00 A ,  H05H13/00 ,  H05H13/04 N

Fターム (19件)：

2G085AA11 ,  2G085AA13 ,  2G085BA02 ,  2G085BA13 ,  2G085CA02 ,  2G085CA22 ,  2G085EA07 ,  4C082AA01 ,  4C082AC05 ,  4C082AE03 ,  4C082AG02 ,  4C082AG05 ,  4C082AG06 ,  4C082AG07 ,  4C082AG09 ,  4C082AG42 ,  4C082AP01 ,  4C082AR07 ,  4C082AR12

引用特許：

出願人引用 (1件)

• USP5,363,008号
  

審査官引用 (2件)

• 荷電粒子照射野形成装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-339855   出願人：三菱電機株式会社
• 粒子線照射システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-331325   出願人：株式会社日立製作所