特許

J-GLOBAL ID：200903012387424389

位置に依存した走査信号の検査のための方法及び制御装置

発明者： ヴオルフガング・ホルツアプフエル ,  アロイス・フーバー ,  ロベルト・ベルンハルト
出願人/特許権者： ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング
代理人 (1件)： 江崎 光史 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-272971
公開番号（公開出願番号）：特開平10-176935
出願日： 1997年10月06日
公開日（公表日）： 1998年06月30日
要約：

【要約】【課題】 本発明の課題は、走査信号のパラメータが充分な解像力と精度をもって表示されることができるような、位置に依存した走査信号の検査方法及び制御装置を提供することである。【解決手段】 位置測定装置の、リサージュの図形の半径Rに相応する大きさの表示のための制御装置に供給される、互いに位相のずれた走査信号S1、S2の制御のための制御装置において、算出された一連の半径値R1〜R5から半径Rの変動幅の値Rmax -Rmin を求めかつこの値の大きさを表示フィールド8に表示するための手段が制御装置4に設けられていることを特徴とする前記制御装置。

請求項（抜粋）：

位置測定装置の、リサージュの図形の半径(R)に相応する大きさの表示のための制御装置に供給される互いに位相のずれた走査信号(S1、S2)の制御のための制御装置において、算出された一連の半径値(R1〜R5)から半径(R)の変動幅の値(Rmax-Rmin )を求めかつこの値の大きさを表示フィールド(8)に表示するための手段が制御装置(4)に設けられていることを特徴とする前記制御装置。

IPC (2件)：

G01D 5/245 102 ,  G01B 21/00

FI (2件)：

G01D 5/245 102 D ,  G01B 21/00 G

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 読取ヘツド
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-125125   出願人：レニシヨウトランスデユーサシステムズリミテツド
• 測定装置の検出信号規格化回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-272416   出願人：エヌティエヌ株式会社
• 位相スプリット回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-023061   出願人：株式会社ゼネラルリサーチオブエレクトロニックス