特許
J-GLOBAL ID：200903012772433186

再生信号の評価方法および光ディスク装置

発明者：
峯邑 浩行

峯邑 浩行 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について

, 
株式会社日立エルジーデータストレージ

株式会社日立エルジーデータストレージ について


代理人 (1件)： 平木 祐輔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-377369
公開番号（公開出願番号）：特開2005-346897
出願日： 2004年12月27日
公開日（公表日）： 2005年12月15日
要約：
【課題】目標レベルが再生信号に応じて変化するPRML方式において,ビタビ・デコーダの検出余裕の観点から再生信号の品質を評価する方法及びそれを搭載した光ディスク装置を提供する。また,最小ランレングスの組み合わせからなる信号パターンに対して,エッジ・シフトの観点から品質を評価する方法及びそれを搭載した光ディスク装置を提供する。【解決手段】再生信号に応じて変化する目標信号レベルから,デコード結果に基づいて目標信号,及びデコード結果がエッジ・シフトした誤目標信号を生成し,これらと再生信号のユークリッド距離を算出することにより,信号品質の評価を可能にすることができる。また,ビタビ・デコーダには内蔵されない,最小ランレングス未満の仮想ステートを定義し,ビタビ・デコーダ内の目標信号レベルテーブルを使って,畳み込みの概念から仮想ステートの目標信号レベルを生成する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
PRML方式に対応した再生信号の評価方法であって, 前記PRML方式は,目標信号レベルが再生信号に応じて変化可能なものであって, デコードした正ビット列と該ビット列から1ビットエッジシフトさせた誤ビット列を生成する過程, 前記正ビット列と誤ビット列から,前記目標信号レベルを参照して,それぞれ正目標信号,誤目標信号を生成する過程, 前記正目標信号と前記再生信号の各時刻における信号レベルの差の2乗値の和を算出して,正ユークリッド距離を算出する過程, 前記誤目標信号と前記再生信号の各時刻における信号レベルの差の2乗値の和を算出して,誤ユークリッド距離を算出する過程, 前記正ユークリッド距離と誤ユークリッド距離の差として,ユークリッド距離差を算出する過程, 前記目標信号レベルから,前記目標信号レベルの1ビットシフトパターンに対応する平均ユークリッド距離を算出する過程, 前記ユークリッド距離差から前記平均ユークリッド距離を引いた後,前記平均ユークリッド距離で割って,規格化シーケンス誤差を算出する過程, 前記,規格化シーケンス誤差を用いて,前記再生信号を評価する過程からなることを特徴とする再生信号の評価方法。
IPC (5件)：
G11B20/18 ,  G11B7/0045 ,  G11B7/005 ,  G11B7/125 ,  G11B20/10
FI (11件)：
G11B20/18 550C ,  G11B20/18 522D ,  G11B20/18 534A ,  G11B20/18 570F ,  G11B20/18 572C ,  G11B20/18 572F ,  G11B7/0045 B ,  G11B7/005 Z ,  G11B7/125 C ,  G11B20/10 311 ,  G11B20/10 321Z
Fターム (27件)：
5D044BC04 ,  5D044CC04 ,  5D044DE68 ,  5D044FG16 ,  5D044GK18 ,  5D044GL32 ,  5D090AA01 ,  5D090CC01 ,  5D090CC04 ,  5D090CC18 ,  5D090DD03 ,  5D090EE03 ,  5D090FF41 ,  5D090HH01 ,  5D090JJ12 ,  5D090KK20 ,  5D789AA10 ,  5D789AA15 ,  5D789AA22 ,  5D789AA24 ,  5D789BA01 ,  5D789DA01 ,  5D789DA05 ,  5D789EA07 ,  5D789HA19 ,  5D789HA45 ,  5D789HA59
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (3件)

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