特許
J-GLOBAL ID:200903012803351590

集積回路装置および校正方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 長門 侃二 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-322849
公開番号(公開出願番号):特開2001-144255
出願日: 1999年11月12日
公開日(公表日): 2001年05月25日
要約:
【要約】【課題】 個体差に起因する装置本体の出力や出力特性のずれやバラツキを、簡易にして効率的に校正し得る機能を備えた集積回路装置を提供する。【解決手段】 所定の回路機能を実現した装置本体1を備えた集積回路装置に、外部から加えられる電磁波エネルギをコイル3を介して取り込んで該集積回路装置が作動するに必要な所定の内部電源を生成する電源部4を設ける。更に所定の動作環境下において装置本体の出力を検出して該装置本体の校正データを得る校正データ取得回路(演算制御部5)と、その校正データを記憶する不揮発性メモリ6とを設ける。そして不揮発性メモリに取得した校正データを用いて、集積回路装置の使用時における装置本体1の出力を補正(校正)する。
請求項(抜粋):
所定の回路機能を実現した装置本体と、コイルを備え、このコイルを介して外部から加えられる電磁波エネルギを取り込んで所定の内部電源を生成する電源部と、所定の動作環境下において前記装置本体の出力を検出して該装置本体の校正データを得る校正データ取得回路と、この校正データ取得回路にて求められた上記校正データを記憶する不揮発性メモリとを具備したことを特徴とする集積回路装置。
IPC (4件):
H01L 27/04 ,  H01L 21/822 ,  G01R 35/00 ,  H01L 21/82
FI (3件):
G01R 35/00 Z ,  H01L 27/04 V ,  H01L 21/82 T
Fターム (16件):
5F038AR30 ,  5F038AZ04 ,  5F038AZ08 ,  5F038BB01 ,  5F038CA08 ,  5F038DF12 ,  5F038EZ20 ,  5F064BB07 ,  5F064BB12 ,  5F064BB19 ,  5F064BB20 ,  5F064BB23 ,  5F064CC12 ,  5F064CC22 ,  5F064CC23 ,  5F064DD34
引用特許:
審査官引用 (5件)
全件表示

前のページに戻る