特許

J-GLOBAL ID：200903013264900492

X線顕微鏡を用いた観察方法及びそれに使用され る試料ホルダ

発明者： 富江 敏尚 ,  清水 秀明 ,  眞島 利和 ,  近藤 洋行
出願人/特許権者： 工業技術院長 ,  株式会社ニコン
代理人 (2件)： 工業技術院電子技術総合研究所長 (外2名) ,  長瀬 成城 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-055730
公開番号（公開出願番号）：特開平6-043300
出願日： 1992年03月13日
公開日（公表日）： 1994年02月18日
要約：

【要約】【目的】 生物試料(10)を直接又は間接に刺激しながらX線顕微鏡で観察する。【構成】 X線顕微鏡を用いて、「媒質(9)中に浮遊する生物試料(10)」を観察する方法において、前記媒質に「生物試料を直接又は間接に刺激する刺激物質〔図1の(11)から発生する〕」を接触させながら観察する。開放型試料カプセルBに試料(10)を入れ、これを刺激物質を共に試料ホルダのカプセル収納室(12)内に入れる。

請求項（抜粋）：

X線顕微鏡を用いて、「媒質中に浮遊する生物試料」を観察する方法において、前記媒質に「生物試料を直接又は間接に刺激する刺激物質」を接触させながら、観察することを特徴とする方法。

IPC (2件)：

G21K 7/00 ,  G01N 1/28

引用特許：

審査官引用 (3件)

• X線顕微鏡
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-290766   出願人：株式会社ニコン
• X線顕微鏡
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-279569   出願人：株式会社ニコン
• 特開平1-128000