特許
J-GLOBAL ID：200903013326103420
データ測定装置および方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
若林 忠 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-170009
公開番号（公開出願番号）：特開2000-002731
出願日： 1998年06月17日
公開日（公表日）： 2000年01月07日
要約：
【要約】【課題】 電子機器の電磁波の放射を良好な効率で対策できるようにするため、実際の電磁波の放射位置は何処なのか、どの対策により電子機器の状態が如何に変化するか、どの対策が如何なる理由により有効なのか、等を検証できるようにする。【解決手段】 測定対象の電子機器31の導電部材32と測定プローブ12を相対移動手段15により相対移動させて接触させ、測定プローブ12の信号をスペクトラムアナライザ21により周波数成分の信号として測定する。この信号測定と相対移動とを繰り返させ、その移動位置と測定結果とを対応させてデータ処理し、処理結果を表示出力する。その表示画像により電子機器31の導電部材32の表面での電流や電位の分布状態を確認できるので、対策の前後での状態変化などから電磁波放射の位置や原因を類推できる。
請求項（抜粋）：
電流と電位との少なくとも一方を測定する測定プローブと、測定対象の電子機器の導電部材と前記測定プローブとを相対移動させて接触させる相対移動手段と、該相対移動手段の移動位置と前記測定プローブによる測定結果とを対応させてデータ処理するデータ処理手段と、該データ処理手段の処理結果をデータ出力するデータ出力手段と、を具備しているデータ測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 29/08 D
, G01R 19/00 A
2G035AA00
, 2G035AB04
, 2G035AC01
, 2G035AD00
, 2G035AD28
