特許
J-GLOBAL ID:200903013387327681

MS/MS型質量分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小林 良平
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-092238
公開番号(公開出願番号):特開2006-278024
出願日: 2005年03月28日
公開日(公表日): 2006年10月12日
要約:
【課題】 各段の四重極の間の空間のイオンの通過効率を向上させることにより分析感度の改善を図る。 【解決手段】 第1イオンレンズ12、第2イオンレンズ13、第1段四重極14、第2段四重極18及び第3段四重極20にそれぞれ直流電圧と高周波電圧を重畳した電圧を印加する電圧源30、33、36、39、42を独立に設け、制御部46より位相設定部32、35、8、41、44を介して相対的な位相をリアルタイムで高速に設定できるようにする。予備測定により質量数に応じた最適な位相値が求められ、これがテーブル47として制御部46に保持される。分析実行時には制御部46は、目的イオンの質量数に応じてテーブル46から対応する位相値を読み出して各電圧源30、33、36、39、42を制御し、任意の質量数のイオンに対する通過効率を改善する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
イオン源から送られてくる各種のイオンから特定質量数の目的イオンを選択して通過させる第1段多重極と、選択された前記目的イオンを開裂させる第2段多重極と、その開裂により生じた生成イオンの中の特定質量数の目的生成イオンを選択して通過させる第3段多重極と、選択された前記目的生成イオンを検出する検出器と、を具備するMS/MS型質量分析装置において、 a)前記第1段多重極に直流電圧と高周波電圧を重畳した電圧を印加するための第1電圧印加手段と、 b)前記第2段多重極に直流電圧と高周波電圧を重畳した電圧を印加するための第2電圧印加手段と、 c)前記第3段多重極に直流電圧と高周波電圧を重畳した電圧を印加するための第3電圧印加手段と、 d)前記第1乃至第3電圧印加手段により第1段乃至第3段多重極に印加される電圧のうち高周波電圧についてその位相を、通過させるイオンの質量数に応じてそれぞれ独立に設定するための位相設定手段と、 を備えることを特徴とするMS/MS型質量分析装置。
IPC (2件):
H01J 49/42 ,  G01N 27/62
FI (2件):
H01J49/42 ,  G01N27/62 L
Fターム (9件):
2G041CA01 ,  2G041DA18 ,  2G041EA04 ,  2G041GA03 ,  2G041GA09 ,  2G041GA13 ,  2G041HA01 ,  5C038JJ06 ,  5C038JJ07
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • MS/MS型質量分析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平6-052999   出願人:株式会社島津製作所
審査官引用 (6件)
  • MS/MS型質量分析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平6-052999   出願人:株式会社島津製作所
  • 多極イオン案内を有する質量分析法
    公報種別:公表公報   出願番号:特願2000-551420   出願人:アナリティカオブブランフォードインコーポレーテッド
  • 質量分析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-123686   出願人:株式会社日立製作所
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